GP-L600-300C metallurgiskt mikroskop för waferinspektion är ett metallurgiskt mikroskop för waferinspektion speciellt designat för material-mikrostruktur inspektion. Utrustad med högupplöst reflekterat ljus optiskt system och DIC differential-interferens funktion, den genererar stereoreliefbilder för att observera kornstrukturer, sprickor, inneslutningar och beläggningsskikt av metaller, legeringar, halvledare och andra material. Med industriell kamera inbyggd stöder den bildtagning och on-monitor mätning; kornstorleksutvärdering är tillgänglig med valfri stödprogramvara. Används brett i kvalitetskontroll, scenarier för misslyckandeanalys och materialvetenskap-forskning.
Detta metallurgiska mikroskop för waferinspektion är lämpligt för mikroskopisk observation av metallografiska mikrostrukturer och ytmorfologi. Det fungerar som ett idealiskt forskningsverktyg för metallurgi, mineralogi och precisionsteknik.
1. Kikare plus synkron elektronisk observation:Okularvy och monitordisplay arbeta synkront. Vanliga metallurgiska mikroskop stöder endast okularobservation; extra kameratillbehör krävs för skärmutmatning.
2. Mekanisk kropp med hög precision:Styv mekanisk struktur med stabil optisk väg, lämplig för halvledar- och materialanalysarbete. Konventionella metallurgiska mikroskop levererar lägre mekaniska precision.
3. Direkt HDMI-utgång:Bildutmatning i realtid till monitor via HDMI-kabel. Allmän metallurgisk mikroskop kräver separata kameror och fångstkort för bildutmatning.
4. Offlinemätning på monitorn:Dimensionsmätning kan utföras direkt på monitorn utan PC-anslutning. Vanliga metallurgiska mikroskop förlitar sig uteslutande på mätning av PC-mjukvara.
5. Offline U-disklagring:Spara foton och videor på U-disk utan dator. Traditionell modeller måste ansluta till PC för att spara bilder.
6. Dedikerad metallurgisk optisk väg:Optimerad för metallkorn, beläggning, halvledare och metallografisk inspektion. Vanliga digitala mikroskop saknar denna specialiserade optiska väg och kan inte visualisera metallografiska strukturer.
HD-kamera inbyggt trinokulärt hölje för samtidig visning via okular och monitor. HDMI-mikrobild i realtid output kombinerar observations- och inspelningsarbetsflöden.
Stöder DIC-, ljusfälts-, mörkfälts- och polariserat ljusobservation. 4-stegs förstoring, optisk 50-500X, max digitala förstoring upp till 1900X, vilket ger skarpa detaljer för inspektion av mikrofunktioner.
Dubbla fokusknappar i kombination med förstärkt linshylsa möjliggör stadig fokusering och minimerar bildskakning.
Tjock integrerad metallkropp och scenfäste med låg tyngdpunkt, håller stabil prestanda för långvarig laboratorieobservation.
Minimalistisk helvit styv metallstruktur med modulär optisk layout, väl lämpad för laboratorier och forskning institut.
Idealisk för waferinspektion, metallografisk analys, material-mikrostrukturkarakterisering, akademisk forskning och precisions-kvalitets-utvärderingsarbete.
1080P foto- och videoinspelning, inbyggd mätning på monitorn, U-disklagring. Digitala bilder förenklar filarkivering, jämförelse och analys efter experiment.
Mekanik:Helmetallkonstruktion för hög styvhet och vibrationsmotstånd. Precision grovfinfokusering utan bakslag. Högprecision manuellt XY-mekaniskt steg med lågt slitage och minimalt godkännande. Trinokulär optisk väg upprätthåller optisk saminriktning under förstoringsväxling.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska objektiv med anti-im hård beläggning. Transmitterad reflekterad 12V-100W halogenlampa belysning.
Avbildning och mätning:Industriell HDMI 1080P-kamera med utmärkt anti-interferens prestanda, lämplig för industriell miljödrift. Mätningar utförs via firmware på displayen.
Driftmiljö:Arbetstemperatur 10-35℃, relativ luftfuktighet 30-75%RH. Stabil prestanda under normal fabriks elektromagnetisk miljö. Undvik kraftiga vibrationer, frätande gaser och kraftigt damm.
Kvalitet och underhåll:Fullständig fabriksinspektion. Ta inte isär optiska moduler. Vanligt dammsäker rengöring förlänger livslängden.
Halvledare och mikroelektronik (Core DIC Application):
Kiselwafers, litografiskivor, IC-chips, PCB, FPC-flexibla kretsar, lödfogar, förpackningskomponenter.
Inspektionsmål: spånyttopografi, wafer-etsningsmönster, nano-repor, kalllödningsfogar,
oxidation och stiftdeformation. Differential-interference-contrast (DIC) framhäver subtila ythöjdsskillnader
för observation av mikrokretsskivor inom 190-1900× förstoringsområde.
Metallografiska metallexemplar:
Legerade metallografiska sektioner, stål, precisionsstämplad metallbeslag.
Inspektionsmål: metallkornstruktur, värmebehandlingsanalys, mikroytsprickor, kantflisning, fina grader,
slitagespår och inre materialföroreningar. Ljusfält / mörkt fält / polariserat ljus lägen tillgängliga för metall
observation av kristallstruktur.
Laboratorieforskningsprov: Kristall, pulver, fiber och tunnfilm:
Kemiska kristaller, metallpulver, kolfiber, textilfiber, optiska beläggningsfilmer.
Observera kristallmorfologi, partikelkonturer, filmdelaminering och mikrobeläggningsstrukturer; polariserat ljus
identifierar kristallpolarisationsegenskaper.
Optoelektroniska precisions-plastkomponenter:
LED-chips, optiska linser, glassubstrat, halvledarförpackningslim.
Upptäck mikroporer, nano-repor, limdelaminering, bubblor och subtila ytojämnheter.
Högprecisions miniatyrkomponenter:
Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, små stämplade arbetsstycken.
Noggrann mätning på pixelnivå för gap, håldiametrar, stigning och ythöjdsskillnader; DIC visualiserar
subtil krimpdeformation.
University Labs & High-End Semiconductor QC:
Materialforskningsexperiment, inspektion av inkommande varor av wafer, observation av metallografiska prover; foto-video
arkivering.
Utrustad med inbyggd 1920*1080 HD-bildbehandling. Lämplig för metallografisk observation, grundläggande halvledarinspektion och generering av enkel laboratorierapport; visar tydligt metallkorn och små kretsfel.
Design med manuell fokus, lämpad för statiska laboratorieprover och lågfrekvent utbyte av arbetsstycke. Stabil fokusering struktur med exakt finjustering för detaljerad observation av statiskt prov.
Standard manuell rörlig scen och vertikal trinokulär metallurgisk optisk väg för metallprover, spånskivor och medelstora PCB, som effektivt dämpar reflekterande bländning för grundläggande metallografisk inspektion.
Dubbelt förstoringsområde: 50-500X optisk förstoring, 190-1900X digital förstoring. Täcker båda hela exemplaren översikt och kontroll av mikrokorn / mikrodefekter.
Inbyggd mätfunktion på enheten, HDMI-utgång i realtid, U-disk för att spara inspektionsfoton och mätning data, för grundläggande laboratoriearkiveringsändamål.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Punkt | Beskrivning |
| Produkt | GP-L600-300C Wafer Inspection Metallurgical Microscope |
| Kategori | Laboratory Research-Grade Trinocular Metallurgical Microscope, stöder DIC differential-interferens, observation av ljusfält / mörkt fält / polariserat ljus |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront visningssystem, integrerad belysning i flera lägen (ljusfält, mörkfält, polarisator, differential-interferens-kontrast DIC), professionell hög precision metallurgisk objektivuppsättning, HD CMOS-bildsensor, inbyggd digital-precisionsmätmodul, HDMI realtidsvideoutgång, U-disk lokal bildlagringsteknik |
| Nyckelspecifikationer | Visuell förstoring: 50/100/200/500×; Elektronisk förstoring: 190/380/760/1900×; Utgångsgränssnitt: HDMI endast; Fånga upplösning: 1920*1080; Endast manuell fokusering; Inbyggd funktion för exakt mätning; U-skiva lagring; Monitor-terminal stöder förhandsgranskning av HD-bilder, fotografering och videoinspelning; Observation lägen inkluderar differential-interferens, ljusfält, mörkt fält, polariserat ljus. |
| Typiska applikationer | Halvledare-wafer-fel-analys, metall-material metallografisk-testning, beläggning-tunn-film- mikrostruktur-observation, precision-halvledarpaket-inspektion, nytt-material-laboratorie-forskning, medicinsk-biomaterial-observation, mikro-defekt-detektering för elektroniska-komponenter |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tillverkarens plats | Kunshan, Jiangsu, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L600-300C |
| Upplösning | 1920×1080 |
| Riktigt effektiva pixlar | 2 megapixlar |
| Fokuseringsmetod | Endast manuell fokus |
| Optiskt format | 1/2" |
| Pixelstorlek | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Utdatametod | HDMI |
| Detaljerad introduktion för utgångsgränssnitt | ① HDMI ansluts till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning och bildjämförelse, manövrerad med musen i realtid. |
| Bildhastighet | HDMI: 60 fps @1920*1080 |
| Djup-of-field-syntes | / |
| Bildsömnad | / |
| Mätmetod | Inbyggt mätsystem på monitorn |
| Mätnoggrannhet | 0,001 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disk lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1,3 GHz |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; inställningsområde mellan pupillerna: 54-76 mm; två stråldelare förhållanden: 100:0, 0:100 |
| Observationslägen | ★ Ljusfält / Mörkfält / Polariserat ljus / DIC (DIC-hårdvara är tillval) |
| Belysningssystem | Transmitterat reflekterat fallljusbelysningssystem, 100-240V bredspänningsingång, justerbar filament mitten, steglöst justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Transmitterat reflekterat stativ med dubbla ändamål; låg handposition koaxial grovfinfokuseringsmekanism.
Grovjusteringsslag: 33 mm; finjusteringsnoggrannhet: 0,001 mm. Utrustad med låsning och begränsning
enheter ② Ljusfälts- och mörkfältsreflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och justerbar mittenhet. ③ Interferensfilter och färgbalanseringsplatta (vitt ljus) för reflekterat ljus optisk väg. ④ Växlingsanordning för ljus-mörkerfält; fack för färgfilter och polariserande tillbehör. |
| Mekanisk scen | 4-tums manuellt mekaniskt steg. Scendimension: 230 mm × 215 mm; X-Y rörelse: 105 mm × 105 mm. Glas provbärarplatta för både transmitterad och reflekterad observation. |
| Ljuskälla | 12V 100W halogenlampa kammare (reflekterat ljus); 12V 100W halogenlampa (genomsläppligt ljus). |
| Polariseringsfunktion | 30-graders polarisatoruttag (reflekterat ljus); 360° roterbart analysatoruttag för polariserat ljus observation. |
| Okular | Två PL10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med justerbar dioptri (ett okular med riktmedel skala). |
| Nosstycke | ★ Objektiv nosstycke med fem hål i ljusa mörka fält |
| DIC-funktion | Funktion för differential-interferens-kontrast; Tillbehör för DIC-inläggskort är valfria och ingår inte in standardkonfiguration. |
| Elektroniskt gränssnitt | 0,5X C-monterad kameragränssnitt, justerbar fokus; CTV 1X är tillval med prisskillnadskompensation. |
| Metallurgiska mål | ★ Ljusa-mörker-fält semi-destruktiva metallurgiska mål ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, fungerar Avstånd: 9,00 mm ×1 st ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, arbetsavstånd: 9,00 mm × 1 st ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Arbetsavstånd: 3,40 mm ×1 st ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, arbetsavstånd: 7,50 mm × 1 st ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Arbetsavstånd: 2,10 mm (tillval, ingår inte i standardpaketet) |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X (omkopplingsbar i fyra nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 190X, 380X, 760X, 1900X (omkopplingsbar i fyra nivåer); valfritt förstoringsområde: 380-3800X. |
Ansvarsfriskrivning:Logotyper och namn på företag, universitet och forskningsinstitutioner som visas på endast denna webbplats indikerar att sådana enheter har köpt eller använt mikroskop av märket GAOPIN. Deras utseende ska inte vara det tolkas som köp av denna exakta produktmodell, och ska inte innebära något kommersiellt stöd, co-branding, anknytning eller projektpartnerskap med dessa tredjepartsorganisationer.
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Precisionskontakt och komponentinspektion
NIO Shanghai – Precisionsinspektion av nyenergibilsdelar och kablage
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalys av oorganisk keramik och nyenergimaterial
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Utseende och mikrokvalitetsverifiering för industristandard-delar
Beijing Institute of Technology – Vetenskaplig forskningsanalys för militära material och optoelektroniska enheter
GREE Electric Appliances (Hefei) – Precisionsmått-mätning och defektkontroll för hushållsapparater-delar
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. grundades officiellt 2011. Vår grundare startade forskning och tillverkning av optisk inspektionsutrustning så tidigt som 2005 och ackumulerad riklig industrierfarenhet. Vi leverera helcykeltjänster som omfattar produktdesign, teknisk-FoU, global försäljning och omfattande-efter-försäljning-underhåll. Vårt interna ingenjörsteam har över tio års erfarenhet av optiska systemutveckling för att säkerställa stabil teknisk prestanda och pålitlig produktkvalitet.
GAOPIN erbjuder mer än hundra kategorier av optiska inspektionsinstrument för industri- och laboratorie- kunder över hela världen. Vi tillhandahåller flexibla, kostnadseffektiva skräddarsydda mikroskopilösningar för olika industrier kvalitetskontroll och laboratorieanalys-projekt.
För utländska köpare tillhandahåller vi snabb global teknisk support inklusive online-videokonsultationer, operativ-video- handledningar och distansutbildning. Vår tillverkningsanläggning ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen (nära Shanghai). På plats-fabriksbesök och virtuella-online-turer är välkomna. Vänligen kontakta vårt säljteam för autentisk sample-testing-bilder tagna med detta wafer Inspection Metallurgical Microscope för att utvärdera verklig bildprestanda.
A1: Endast HDMI-högupplösningsutgång är utrustad. Det finns ingen USB-, WIFI- eller LAN-port. Datoranslutning är det inte stöds; den fungerar självständigt med en monitor för enkla arbetsflöden.
A2: Kontrollera strömförsörjningen och matchande adapter; fäst HDMI-kabeln ordentligt; byt bildskärm till rätt HDMI-signalkälla; starta om enheten för att lösa fel med svart skärm och ingen bild.
A3: Detta är en modell med manuell fokus. Justera långsamt fokushandratten för att få skarp bild. Lås objektivlinsen ordentligt, lägg prova platt, och rengör regelbundet linsdamm och fläckar för klar sikt.
A4: Endast FAT32-formaterade U-diskar ≤32 GB stöds. NTFS- och exFAT-format är inkompatibla. Infoga om, formatera om eller ersätt med en kompatibel U-disk för normal foto- och videosparning.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
