GP-L600-462H är ett 4K Ultra HD autofokus metallurgiskt mikroskop för waferinspektion. Den antar oändlighetskorrigerat optiskt system för snabb växling mellan ljusfälts- och mörkfältsobservationslägen. Ljusfält används för rutinmässig metallografisk mikrostrukturobservation; mörkt fält ger förbättrad kontrast för små ytdefekter, repor och partikelföroreningar. Den trinokulära porten stöder kamerainstallation och metallurgisk analys-mjukvara anslutning. Väl lämpad för metallografisk forskning, halvledarinspektion och arbetsflöden för detektering av arbetsstycke-yta-defekter.
Detta instrument är lämpligt för mikroskopisk observation av metallografiska mikrostrukturer och ytmorfologi. Det fungerar som ett idealiskt forskningsverktyg för metallurgi, mineralogi och precisionsteknik.
4K-kamera inbyggt trinokulärt hölje för samtidig visning via okular och monitor. Flerportsutgång via HDMI, USB3.0 och WIFI överför ultra-HD mikrobilder i realtid.
Stöder DIC-, ljusfälts-, mörkfälts- och polariserat ljusobservation. 4-stegs förstoring, optisk 50-500X, max digitala förstoring upp till 1900X, vilket ger skarpa detaljer för inspektion av mikrofunktioner.
Inbyggd hårdvaruautofokusmodul, manuellt fokusläge är också tillgängligt. Ger mjuk, vibrationsfri fokusering och förbättrar effektiviteten för massprovstestning.
Tjockt integrerat metallstativ och scenfäste med låg tyngdpunkt, håller stabil prestanda för långvarig laboratorieobservation.
Modulär optisk layout med styv metallstruktur, väl lämpad för laboratorier, forskningsinstitut och halvledare tillverkningsanläggningar.
Idealisk för wafer-and-chip-inspektion; också allmänt använd för halvledartestning, metallografisk analys, material-forskning och precision-kvalitets-utvärderingsarbete.
4K-foto- och videoinspelning, dubbla mätlägen (inbyggd på skärmen + PC-programvara). Dubbellagring via U-disk & dator. Skärpedjupsyntes fungerar både på monitor och PC-mjukvara; bildsammanfogningsfunktion är endast tillgänglig i PC-mjukvara. Sekundär utveckling som stöds för bildarkivering, jämförelse och avancerad analys.
1. Optiska observationslägen:Stöder multilägesoptik inklusive DIC, ljusfält, mörkt fält och polariserat ljus för observation av kristall och beläggningstextur. Vanliga metallurgiska mikroskop ger bara grundläggande ljusfält och kan inte visualisera ultratunna lager och kristallmikrostrukturer.
2. Bildsystem:Inbyggd 4K ultra-HD-kamera, synkroniserad okular- och bildskärmsvisning. Vanligt metallurgiska mikroskop ger lågupplösta 2K-bilder och endast okularvisning, med suddiga förvrängda bilder under hög förstoring.
3. Förstoringsjustering:190-1900X fyrhastighetszoom, täcker makroöversikt och mikrodetaljer inspektion. Vanliga metallurgiska mikroskop har färre förstoringsväxlar och suddiga bilder under hög effekt.
4. Mätning och registrering:Inbyggd exakt mätning på bildskärmen med foto-video-fångst funktion. Vanliga metallurgiska mikroskop har inga ombordmätningar och kräver PC-mjukvara för alla mätnings- och arkiveringsarbete.
Mekanik:Helmetallkonstruktion för hög styvhet och vibrationsmotstånd. Maskinvara autofokus modulutrustad, manuell fokusering är också tillgänglig. Exakt grovfinfokusering utan bakslag. Hög precision manuellt XY mekaniskt steg med lågt slitage och minimalt spel. Trinokulär optisk väg bibehåller optisk saminriktning under förstoringsväxling.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska objektiv med anti-im hård beläggning. Transmitterad reflekterad 12V-100W halogenlampa belysning.
Avbildning och mätning:4K industriell CMOS-kamera. Multiutgång: HDMI + USB3.0 + WIFI, bra anti-interferensprestanda för industriell miljöanvändning. Stöder inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvara mätning. Dubbelvägslagring via U-disk och PC-mjukvara. Skärpedjupsyntes fungerar båda on-monitor och PC-mjukvara; bildsömnad som uteslutande stöds av PC-programvara. Sekundärt utvecklingsgränssnitt tillgänglig via USB3.0 / WIFI.
Driftmiljö:Arbetstemperatur 10-35℃, relativ luftfuktighet 30-75%RH. Stabil under ordinarie fabrikens elektromagnetiska miljö. Undvik kraftiga vibrationer, frätande gaser och kraftigt damm. Håll WIFI-modulen borta från starka signalstörningskällor.
Kvalitet och underhåll:Fullständig fabriksinspektion. Ta inte isär optiska moduler eller autofokusmodul. Regelbunden dammsäker rengöring förlänger livslängden.
Halvledare och mikroelektronik (Core DIC Application):
Kiselwafers, litografiskivor, IC-chips, PCB, FPC-flexibla kretsar, lödfogar, förpackningskomponenter.
Inspektionsmål: spånyttopografi, wafer-etsningsmönster, nano-repor, kalllödningsfogar,
oxidation och stiftdeformation. Differential-Interference-Contrast (DIC) framhäver subtila yt-höjdskillnader
för observation av mikrokretsskivor inom 190-1900× förstoringsområde.
Metallografiska metallexemplar:
Legerade metallografiska sektioner, precisionsstansad metallhårdvara.
Inspektionsmål: metallkornstruktur, värmebehandlingsanalys, mikroytsprickor, kantflisning, fina grader,
slitagespår och inre materialföroreningar. Ljusfält / mörkt fält / polariserat ljus lägen tillgängliga för
metall-kristall-struktur observation.
Laboratorieforskningsprov: Kristall, pulver, fiber och tunnfilm:
Kemiska kristaller, metallpulver, kolfiber, textilfiber, optiska beläggningsfilmer.
Observera kristallmorfologi, partikelkonturer, filmdelaminering och mikrobeläggningsstrukturer; polariserat ljus
identifierar kristallpolarisationsegenskaper.
Optoelektroniska precisions-plastkomponenter:
LED-chips, optiska linser, glassubstrat, halvledarförpackningslim.
Upptäck mikroporer, nano-repor, limdelaminering, bubblor och subtila ytojämnheter.
Högprecisions miniatyrkomponenter:
Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, små stämplade arbetsstycken.
4K-pixelnivå noggrann mätning för gap, håldiametrar, stigning och ythöjdsskillnader; DIC visualiserar
subtil krimpdeformation.
University Labs & High-End Semiconductor QC:
Materialforskningsexperiment, inspektion av inkommande varor av wafer, observation av metallografiska prover; foto-video
arkivering, exportera exakta mätrapporter via PC.
Utrustad med inbyggd 3840*1080-kompatibel 4K-bildbehandling. Lämplig för metallografisk analys, inspektion av spånkretsar och professionell-test-rapport-generering; visar tydligt metallkorn, mikrorepor och små mikrodefekter.
Autofokusutrustad maskinvara, passar massproduktionsinspektion och frekvent provbyte. Uppnår snabbt fokusering efter provrörelse utan upprepad manuell justering för att förbättra testningseffektiviteten. Manuellt fokusläge är också tillgänglig för observation med statiskt prov.
Standard manuellt rörligt steg och vertikal trinokulär metallurgisk optisk bana för spånskivor, små-medelstora PCB och metallexemplar, som effektivt dämpar reflekterande bländning för metallografisk inspektion. Motordrivet XY-steg kan vara valt som valfri uppgradering.
Dubbelt förstoringsområde: 50-500X optisk förstoring, 190-1900X digital förstoring. Täcker båda hela exemplaren översikt och kontroll av mikrokorn / mikrodefekter.
Stöder inbyggd mätning på enheten och mätning av PC-programvara. Utrustad med HDMI, USB3.0 och WIFI-utgång hamnar. Foton, videor och mätdata kan sparas via U-disk eller dator. Sekundär-utveckling stöds för produktionslinjeintegration och labb-data-spårbarhet.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Punkt | Beskrivning |
| Produkt | GP-L600-462H Wafer Inspection Metallurgical Microscope med 4K Ultra HD och autofokus |
| Kategori | Laboratorieforskningsgradigt trinokulärt metallurgiskt mikroskop, som stöder DIC-differentialinterferens, observation av ljusfält / mörkt fält / polariserat ljus |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront visningssystem, integrerad belysning i flera lägen (ljusfält, mörkt fält, polarisator, differential-interferens-kontrast DIC), högprecision professionell metallurgisk objektivuppsättning, 4K ultra-HD CMOS-bildsensor, hårdvaruautofokusmodul, trippelkanal överföring (HDMI+USB3.0+WIFI), system med dubbla mätningar, syntes av skärpedjup och algoritm för sammanfogning av bilder, öppen arkitektur som stöder integration av sekundär utveckling |
| Nyckelspecifikationer | Visuell förstoring: 50/100/200/500×; Elektronisk förstoring: 190/380/760/1900×; Trippelutgångsportar: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-upplösning: 3840×2160; Autofokusutrustad maskinvara (även manuell fokusering tillgänglig); Dubbla mätningslägen: inbyggd exakt mätning + matchad PC-mjukvara mätning; Dubbla lagringslägen: U-disklagring + lagring av datorprogramvara; Monitorterminal stöder dimensionell mätning, förhandsgranskning av HD-bilder, foto-videoinspelning, syntes av skärpedjup; PC-terminal stöder dimensionsmätning, fillagring, skärpedjupsyntes och bildsömnad; Stöd för hela enheten integration i sekundär utveckling. |
| Typiska applikationer | Halvledare-wafer-fel-analys, metall-material metallografisk-inspektion, beläggning-tunn-film- mikrostruktur-observation, precision-halvledarpaket-testning, avancerad-material-laboratorie-forskning, medicinsk-biomaterial-observation, mikro-defekt-detektering för elektroniska-komponenter |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tillverkarens plats | Kunshan, Jiangsu, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L600-462H |
| Upplösning | 3840×2160 |
| Riktigt effektiva pixlar | 8 300 000 pixlar |
| Fokuseringsmetod | autofokus |
| Optiskt format | 1/1,8" |
| Pixelstorlek | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Utdatametod | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Detaljerade funktionsintroduktioner som motsvarar varje utgångsgränssnitt | ① HDMI ansluts till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd
hårdvarudriven autofokus, fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning
och
bildjämförelse, styrd av mus i realtid. ② USB 3.0 ansluts till dator, medföljer högkvalitativ professionell bildbehandlingsprogramvara för fotoinsamling, dimensionsmätning, skärpedjupsfusion och bildsömnad. ③ WIFI-modul ansluts till bärbara datorer eller mobila enheter; i realtid bildöverföring, fotografering och lagring via matchande mjukvara. |
| Bildhastighet | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30 fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Djup-of-field-syntes | Stöds av både HDMI on-monitor firmware och PC-mjukvara |
| Bildsömnad | Stöds endast på PC-programvaran |
| Mätmetod | Inbyggt on-monitor mätsystem + PC-mjukvara mätning |
| Mätnoggrannhet | 0,002-0,005 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disklagring + PC-mjukvara lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz huvudkontrollprocessor |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; inställningsområde mellan pupillerna: 54-76 mm; två stråldelare förhållanden: 100:0, 0:100 |
| Observationslägen | ★ Ljusfält / Mörkfält / Polariserat ljus / DIC (DIC-hårdvara är tillval) |
| Belysningssystem | Transmitterat reflekterat fallljusbelysningssystem, 100-240V bredspänningsingång, justerbar filament mitten, steglöst justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Transmitterat reflekterat stativ med dubbla ändamål; låg handposition koaxial grovfinfokuseringsmekanism.
Grovjusteringsslag: 33 mm; finjusteringsnoggrannhet: 0,001 mm. Utrustad med låsning och begränsning
enheter. ② Ljusfälts- och mörkfältsreflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och justerbar mittenhet. ③ Interferensfilter och färgbalanseringsplatta (vitt ljus) för reflekterat ljus optisk väg. ④ Växlingsanordning för ljus-mörkerfält; fack för färgfilter och polariserande tillbehör. |
| Mekanisk scen | 4-tums manuellt mekaniskt steg. Scendimension: 230 mm × 215 mm; X-Y rörelse: 105 mm × 105 mm. Glas provbärarplatta för både transmitterad och reflekterad observation. |
| Ljuskälla | 12V 100W halogenlampa kammare (reflekterat ljus); 12V 100W halogenlampa (genomsläppligt ljus). |
| Polariseringsfunktion | 30-graders polarisatoruttag (reflekterat ljus); 360° roterbart analysatoruttag för polariserat ljus observation. |
| Okular | Två PL10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med justerbar dioptri (ett okular med riktmedel skala). |
| Nosstycke | ★ Objektiv nosstycke med fem hål i ljusa mörka fält |
| DIC-funktion | Funktion för differential-interferens-kontrast; Tillbehör för DIC-inläggskort är valfria och ingår inte in standardkonfiguration. |
| Elektroniskt gränssnitt | 0,5X C-monterad kameragränssnitt, justerbar fokus; CTV 1X är tillval med prisskillnadskompensation. |
| Metallurgiska mål | ★ Ljusa-mörker-fält semi-destruktiva metallurgiska mål ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, fungerar Avstånd: 9,00 mm ×1 st ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, arbetsavstånd: 9,00 mm × 1 st ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Arbetsavstånd: 3,40 mm ×1 st ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, arbetsavstånd: 7,50 mm × 1 st ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Arbetsavstånd: 2,10 mm (tillval, ingår inte i standardpaketet) |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X (omkopplingsbar i fyra nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 190X, 380X, 760X, 1900X (omkopplingsbar i fyra nivåer); valfritt förstoringsområde: 380-3800X. |
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisk komponenttestning och felanalys
Xi'an Jiaotong University – Avancerad-materialvetenskap och precisionsoptik experimentell-observation
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & optisk-komponent-karakterisering
Tianjin University of Commerce – Material-laboratorie-undervisning, mikrobildbehandling och experimentell-data-arkivering
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalys av oorganisk keramik och nyenergimaterial
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensionell och mikrofelsdetektering för precisionsbearbetade delar
A1: Utrustad med HDMI, USB3.0 och WIFI-gränssnitt. Den stöder direktskärmsskärm och trådbunden/trådlös PC anslutning för kollaborativ upptäckt.
A2: Den stöder 4K ultra-HD foto- och videoinspelning. Filer kan sparas på FAT32-formaterad U-disk inom 32 GB kapacitet eller datorlagring. Stöder både skärm- och PC-mjukvara exakt mätning, med databesparing och rapport-export-funktioner.
A3: Kontrollera strömförsörjningen och matchande adapter; fäst HDMI-kabeln ordentligt och byt bildskärm till rätt signalkälla; starta om enheten för att lösa fel med svart skärm, ingen bild och skärmflimmer.
A4: Denna modell stöder hårdvaruautofokus och dubbla lägen med manuell fokus. Du kan aktivera autofokus för snabb bildtagning eller finjustera manuellt. Lås objektivlinsen ordentligt, lägg provet plant, rengör regelbundet linsdamm och fingeravtryck för att få skarp bildbehandling.
A5: Den stöder USB-trådbunden och WIFI trådlös PC-anslutning. Installera officiell mätningsprogramvara, inaktivera brandväggen eller avlyssningsprogram, återanslut hårdvara och starta om mjukvara för normal igenkänning.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. grundades officiellt 2011. Vårt grundarteam samlades rika optisk-inspektion-instrument-industri-erfarenhet med start 2005. Vi levererar helcykeltjänster som omfattar produktdesign, intern FoU, global försäljning och omfattande eftermarknadsunderhållstjänster. Vår skickligt ingenjörsteam har mer än tio års erfarenhet av optiska instrument-utveckling för att säkerställa stabil-teknisk prestanda och pålitlig produktkvalitet.
GAOPIN levererar mer än hundra kategorier av optiska testinstrument industri- och laboratoriekunder över hela världen. Vi utvecklar flexibla, kostnadseffektiva skräddarsydda mikroskopilösningar för mångsidig-industriell-kvalitetskontroll och laboratorie-analys-projekt.
För utländska köpare tillhandahåller vi lyhörd världsomspännande teknisk support inklusive fjärrkonsultationer online, praktisk-video-tutorials och live-fjärrutrustning-drift-träning. Vår produktionsanläggning ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen (nära Shanghai). På plats-fabriksbesök och virtuella-online-turer är välkomna. Vänligen kontakta vår säljteam för autentiska-prov-test-foton tagna med detta Wafer Inspection Metallurgical Microscope med 4K Ultra HD och autofokus för att utvärdera verklig bildprestanda.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
