Metallanalys metallurgiskt mikroskop med 4K Ultra HD

Detta metallurgiska metallanalysmikroskop med 4K Ultra HD har utvecklats för materialmikroinspektion och är ett högpresterande metallanalysmetallurgiskt mikroskop Mikroskop med 4K Ultra HD. Med förstklassig oändlighetskorrigerad optik levererar den skarpa bilder för både transparent och ogenomskinlig prover. Modulär design stöder flexibla uppgraderingar av ljusfälts- och polariserat ljus efter försäljning. Förstärkt antivibrationschassi eliminerar bildförskjutning under hög förstoring. Användarvänliga kontroller och rymlig scen möjliggör kontinuerliga tester under lång tid. Valbara kombinerade moduler minskar ersättningskostnaderna för hela maskinen, perfekt för professionellt industriinspektions- och metallurgiskt analysarbete.

Unika designfördelar

Integrerad 4K Synchronous CCD Imaging

4K-kamera integrerad med trinokulär metallurgisk ram, vilket möjliggör samtidig visning av okular och skärm. Dubbel utgång portar: HDMI & Gigabit-LAN för ultratydlig mikrobildfångst i realtid.

Optiskt system med ultrahög förstoring

Optisk förstoring 50-600 ×, max digital förstoring 4560 × med fyra-hastighets objektiv-zoom. Precision optisk väg fångar små mikrodetaljer av halvledare, pulver och fiberprover.

Heavy-Duty integrerad stabil metallbas

Tjock bas i gjuten aluminium garanterar en balanserad viktfördelning, fri från vingling eller förskjutning under lång tid skivinspektion och materialanalys.

Lab-Grade Professionell-Utseende struktur

Minimalistisk vit-blå trinokulär layout, professionell laboratorieestetik för forskningslaboratorier och industri kvalitetskontrollverkstäder.

Multi-scenario mikroinspektionskompatibilitet

Väl lämpad för testning av halvledarskivor, metall-metallografisk analys, pulver- och fiberobservation, universitetsforskning och komponentkvalitetstestning.

Allt-i-ett observation, mätning och lagring

Stöder inbyggd 4K-foto- och videoinspelning. Dubbla mätningslägen: inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvarubaserad mätning. Dubbel lagring: USB-minne lokal lagring + PC-programvara arkivering. Skärpedjup stapling och bild-sömmar är tillgängliga via PC-programvara; sekundärt utvecklingsgränssnitt stöds för bekvämt bildarkivering, jämförelse och avancerad dataanalys.

Skillnader från konventionella metallurgiska mikroskop

Kikare och synkron elektronisk observation:Synkroniserad visning mellan okular och övervaka. Vanliga metallurgiska mikroskop stöder endast visning av okularet; extra kameratillbehör är krävs för skärmutmatning.

Native 4K ultra-högupplöst bildbehandling:Levererar 3840 × 2160 4K-upplösning. Mest konventionella metallurgiska mikroskop är begränsade till 1080P upplösning.

Dubbla utgångsgränssnitt:HDMI + Gigabit-LAN ​​nätverksport. Traditionella metallurgiska apparater mestadels har endast PC-USB-anslutning, saknar nätverksöverföringskapacitet.

Dubbla mätningslägen:Offline inbyggd mätning på monitorn plus PC-mjukvarubaserad mätning. Vanliga metallurgiska mikroskop stödjer endast mätning på PC-sidan utan hårdvaruinbäddad mätfunktion.

Dubbla lagringslägen:Offline USB-flash-enhet lagring och PC-programvara-lagring; spara data med eller utan en värddator. Konventionella modeller kräver PC för bildlagring.

Avancerade bildbehandlingsfunktioner på PC:Funktioner för skärpedjupstapling och bildhäftning är tillgängliga via stödjande PC-programvara. Allmänna metallurgiska mikroskop har inga sådana algoritm-funktioner.

Sekundär utveckling som stöds:Gigabit-LAN möjliggör systemintegration för automatiserad produktionslinjedistribution. Allmänna metallurgiska mikroskop kan inte stödja sekundär utveckling integration.

Modulär expanderbar optisk väg:Stöder tillägg av polariserat ljus och andra observationsmoduler utan att byta ut hela enheten. Vanliga digitala mikroskop saknar dedikerad metallurgisk optisk väg och kan inte observera fina metallurgiska mikrostrukturer.

Bevis och tillförlitlighet på plats (förstahandstestning)

1. 4K Ultra-HD Imaging Kalibrering

Antagande av en inbyggd 3840 × 2160 4K industriell bildsensor och kalibrerad med nationell standard metallurgisk kalibreringsobjektglas, enheten uppnår högtrogen restaurering av mikroskopiska morfologier som metallkorn strukturer, halvledar-wafer-mikrotexturer, pulver-partikelformer och fiber-vävnadsegenskaper. Det inser enhetlig fullfältsbilddefinition utan perifer oskärpa eller signaldämpning.

2. Möjlighet att detektera brett förstoring

Utrustat med ett fyrstegs objektiv med variabel förstoring, täcker instrumentet en total förstoring räckvidd på 380-4560 ×. Den uppfyller kraven för dubbla applikationer: makroskopisk full-view skanning med låg effekt och ultrahög effekt mikroskopisk mikrostruktur finanalys, fullt användbar för universitetsvetenskaplig forskning, materialanalys och industriell högprecisionskvalitetskontroll.

3. Integrerat 4K precisionsmätning och videoinsamlingssystem

Den inbäddade professionella metallurgiska mätningsmodulen stöder dimensionell beräkning med hög noggrannhet och i realtid grafisk annotering. Den integrerar ett klick högupplöst ögonblicksbild och långtids dynamisk videoinspelning funktioner. Alla inspektionsdata och bildfiler stöder export och permanent arkivering, vilket ger giltigt datastöd för akademisk- experimentella-rapporter och industriell-kvalitet-spårbarhet-system.

4. Industriell trinokulär optisk och mekanisk konfiguration

Det professionella trinokulära optiska röret realiserar synkron optisk-okular-observation och digital-display-imaging. Det dubbelvägssända och reflekterade belysningssystemet är kompatibelt med ogenomskinliga metallprover, transparent-pulver-fiber skivade-prover och halvledar-wafer-material. Precisions XY-axeln mekaniskt-rörligt-steg har ultrasmidig överföring och hög positioneringsnoggrannhet, vilket möjliggör effektiv och exakt provdetektering.

Vilka inspektioner är lämpliga för 380-4560 × förstoring?

Halvledare och mikroelektronik:Kiselwafers, fotolitografiskivor, IC-chips, PCB-kort, FPC flexibla kretsar. Inspektionsmål: Mikrochipkretsar, beläggningsdefekter, wafer-defekter, kalllödningsdefekter, kretsrepor och stiftdeformation; observera mikron-skiva-strukturer under max 4560 × förstoring.

Metallografiska metallexemplar:Metallografiska skivor, stållegeringar, borrkronor, fräsar, precisionsstämplad-hårdvara. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstruktur-analys, värmebehandling-material-identifiering; upptäcka kantflisning, mikrosprickor, grader och nötningsdjup.

Labbprover: Pulver & Fiber:Metallpulver, kemiskt pulver, kolfiber, textilfiber, tunnfilmsmaterial. Inspektionsmål: Observera partikelmorfologi, fiberstruktur, filmdelaminering och mikromaterial-strukturer.

Optoelektroniska och precisionsplastdelar:LED-chips, optiska linser, formsprutade delar, tätningslim. Inspektionsmål: Upptäck mikroporer, ytfläckar, ojämna kanter, limbubblor och små kosmetiska defekter.

Högprecisions miniatyrkomponenter:Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, miniatyrstämplade arbetsstycken. Inspektionsmål: Observera små luckor och krimpplanhet; utföra pixelnivå exakt mätning av längd, håldiameter och stigning.

Laboratorie- och industriell QC-arkivering:Material-forskning-experiment, inkommande-&-färdiga-varor provtagning-inspektion; foto-&-video-arkivering för defekta-bevis-poster och export av formell mätning QC rapporterar.

Hur man väljer en modell

För ultrahög förstoring 4K precision-mikroinspektion

Max 600 × optisk förstoring och upp till 4560 × digital förstoring med inbyggd 3840 × 2160 4K-upplösning. Det tydligt visar små strukturer som metallkorn, wafer-texturer, ultratunna beläggningar och mikrosprickor, perfekt för högstandardanalys av chips, nya material och elektropläterade delar.

För spårbarhet av full kvalitet med dubbla mätningar och dubbel lagring

Två-mätningslösningar: snabb inbyggd on-monitor-mätning, högprecision professionell mätning via PC-mjukvara. Två-lagringsmetoder: USB-minne lokalt spara och PC-batch-arkivering för bilder och mätdata.

För synkron multi-person-observation i undervisning & dubbelinspektion

Trinocular synchronous-optical-path möjliggör samtidig visning via kikare-okular och 4K-monitor. Flera operatörer kan kontrollera samma mikroprov tillsammans, perfekt för universitetsmaterialundervisning och QC-dubbel-re-check och FoU-team-diskussion för att minska felbedömningar.

För metallografisk inspektion med flera prover i långtidsfixerade labbstationer

Professionell metallurgisk scen med flera mål passar metallexemplar, PCB-beläggningar, halvledarchips, mineralskivor och tunnfilmsmaterial. Koaxial grov-och-fin manuell fokusering med tung-anti-vibrations-kropp, stabil för inkommande-besiktning, ny-material-forskning och lång-statisk-labb-analys.

För nätverksöverföring och sekundär utvecklingsintegration

Utrustad med Gigabit-LAN-port, stöder nätverksbildöverföring och sekundärutvecklingsdockning. Lämplig för multi-station-lab-management och automated-factory-workstation integration-projekt.

Anpassningsalternativ

Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.

Produktenhetsöversikt

Tekniska specifikationer

Auktoritativa partners och kunder

GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:

Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & optisk-komponent-karakterisering

DOOV – Mobil-enhet-montering-inspektion, skärm- och komponent-utseende-testning

NIO Shanghai – Precisionsinspektion för nya-energi-bildelar och ledningsnät

Beijing Institute of Technology – Vetenskaplig-forskning-analys för militär-grade-material och optoelektroniska enheter

GREE Electric Appliances (Hefei) – Precisionsmått-mätning & defektinspektion för hushållsapparater-komponenter

Tekniska institutet för fysik och kemi, CAS – Mikroskopisk-forskning om lågtemperatur & special-funktionella-material

Dagligt underhåll för GAOPIN 4K industriellt metallurgiskt mikroskop

Mål & okular:Blås av damm med en luftfläkt, torka sedan av linserna försiktigt med linspapper och linsrengörare. Rör aldrig optiska linser med bara händer och använd aldrig vanliga pappershanddukar för rengöring.

Huvudkropp och scen:Rensa provskräp och metallurgiskt pulver omedelbart. Torka av höljet med en torr mjuk trasa; undvik vätskestänk. Kontrollera regelbundet att stegskruvarna är åtdragna för att förhindra växling orsakad av kollisioner.

Transmitterad och reflekterad ljuskälla:Stäng av ljuskällan när mikroskopet är inaktivt. Blås damma av ljusfönstret och rör inte vid glödlampan direkt.

Mekanisk fokusmekanism:Vrid inte fokushandratten med överdriven kraft. Fortsätt glida spår rena; smörj dem aldrig själv.

Lagringsmiljö:Förvara i ett torrt, välventilerat utrymme för att motstå fukt och mögel. Täck över enhet med dammskydd efter användning.

Programvara och kalibrering:Kalibrera mätskalan innan du utför mätningar. Helt nära tillhörande programvara innan strömmen bryts. Ta inte isär enheten utan tillstånd; kontakt eftermarknadsservice vid felfunktioner.

Vanliga frågor

F1: Vilken är den visuella och elektroniska förstoringen av GP-L300-324K?

A1: Visuell förstoring: 50-600 ×; Elektronisk förstoring: 380-4560 ×. Synkron visning via okular och övervaka finns tillgänglig.

F2: Vilka utgångsgränssnitt finns tillgängliga?

A2: Den stöder HDMI-videoutgång och Gigabit-LAN-port. Den kan anslutas direkt till monitorn eller komma åt kameran via LAN-nätverk med en dator.

F3: Vad är inspelningsupplösningen? Vilka mätnings- och lagringsalternativ stöds?

A3: Fångstupplösning: 3840 × 2160 (4K). Den stöder inbyggd skärmmätning och PC-mjukvarubaserad mätning. Filer kan sparas på USB-minne eller via PC-programvara.

F4: Ingen bild på HDMI-skärmen, hur felsöker jag?

A4: ①Kontrollera strömförsörjningen för mikroskop; ②Se till att HDMI-kabeln är ordentligt ansluten; ③Välj rätt HDMI-ingångskälla på övervaka; ④Starta om mikroskopvärden.

F5: Kunde inte komma åt kameran via LAN-porten?

A5: ①Anslut nätverkskabel mellan enheten och switchen/datorn; ②Ställ in PC-IP till samma nätverkssegment som kameran; ③Vrid av PC-brandvägg; ④Verifiera enhetens IP-inställningar och återanslut.

F6: Är bilden suddig och oskarp?

A6: Den här modellen antar design med manuell fokus. Vrid långsamt fokushandratten. Se till att objektivet klickar på plats. Placera provet plant och rent damm på objektivlinsen.

F7: USB-flash-enhet upptäcktes inte, lagring misslyckades?

S7: Använd FAT32-formaterad USB-flash-enhet med en kapacitet på 32 GB. Sätt i eller formatera USB-minnet igen för att försöka igen.

F8: Stöder den sekundär utveckling? Vilka är applikationsscenarierna?

S8: Ja, sekundär utveckling stöds. Lämplig för metallografisk analys, metallmaterial, pulvermetallurgi, halvledarkomponenter-observation, vetenskaplig-forskning och undervisningsscenarier.

Om GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundat 2011 vars grundare har samlat på sig branschexpertis sedan dess 2005, är ett tekniskt fokuserat företag som specialiserat sig på design, FoU, försäljning och eftermarknadsservice för industriell mikroskop. Vårt kärnteknikteam har över tio års specialiserad erfarenhet, vilket säkerställer mogen teknologi och pålitlig kvalitet. Med mer än hundra optiska produktmodeller och en global kundbas, GAOPIN kontinuerligt levererar skräddarsydda, kostnadseffektiva mikroskopilösningar. Vi tillhandahåller snabbt svar global teknisk support genom onlinekonferenser, videoassisterad vägledning och distansutbildningar. Vår tillverkningsbas finns i Kunshan, Jiangsu-provinsen (nära Shanghai). Både fabriksinspektioner på plats och virtuella anläggningsvisningar är tillgängliga för kunder. Välkommen att kontakta oss för exempel på testbilder tagna med denna GP-L300-324K Metallanalys Metallurgical Mikroskop med 4K Ultra HD för att utvärdera bildprestanda i första hand.