GP-L700-462H är ett metallurgiskt mikroskop med autofokus på långa arbetsavstånd. Den är utrustad med lång arbetsavstånd mål och ljusfältsobservationsläge. Extra internt arbetsavståndsutrymme rymmer höjdskillnader prover. 4K högupplöst bildbehandling ger skarp mikrostruktur och ytdefekta detaljer. Den trinokulära porten stöder kameramodul och bildanalys-programvara. Används ofta i universitetsforskningsinstitut och industriella QC-laboratorier för mikroobservation och kvalitetsutvärdering av metalliska och icke-metalliska prover.
Detta metallurgiska mikroskop med autofokus med långa arbetsavstånd är lämpligt för inspektion av precisionskomponenter, integrerade kretsar och förpackningsmaterial produkter.
1. Förstoring:380-3800X fyrväxlad högförstoring för korn-och-chip-mikrostruktur observation. Vanliga metallurgiska mikroskop ger lägre maximal förstoring och suddiga bilder med hög effekt, och kan inte observera ultrafina metallkorn.
2. Bildsystem:Inbyggd 4K ultra-HD-kamera, synkroniserad okular- och bildskärmsvisning. Vanligt metallurgiska mikroskop använder lågupplöst 2K-kvalitetskamera och endast okularvisning.
3. Mätning och lagring:Inbyggd on-monitor exakt-mätning med foto-video-fångst för test-bevis-arkivering. Vanliga metallurgiska mikroskop har inga ombordmätningar och kräver PC-mjukvara för allt mät- och arkiveringsarbete.
4. Användningsområde:Optimerad för exakt inspektion av wafers, halvledarchips och metall korn. Vanliga metallurgiska mikroskop är begränsade till enkel observation av metallskivor med dålig prestanda för fina chip-grade exemplar.
4K-kamera integrerad med trinokulärt huvud för samtidig visning via okular och monitor. Flerportsutgång via HDMI, USB3.0 och WIFI överför ultra-HD mikrobilder i realtid.
Precisionslins med flera lager optisk väg med fyra stegs förstoring; max digital förstoring upp till 3800X, fånga skarpa mikrostrukturer på mikronnivå av wafers, chips och kristallkorn.
Inbyggd hårdvaruautofokusmodul; Manuellt fokusläge är också tillgängligt. Ger stabil, vibrationsfri fokusering och förbättrar inspektionseffektiviteten för massprovstestning.
Förtjockad fyrkantig metallbas med solid stödarm sänker tyngdpunkten och undviker växling/skakning under lång timme kontinuerlig observation med hög effekt.
Styv svartvit metallkropp med löstagbar delad ljuskällasmodul, minimalistisk professionell stil för labb och halvledarverkstäder.
Optimerad för wafer-and-chip-inspektion; också allmänt använd för halvledartestning, metallografisk analys, materialforskning och industrikvalitetskontrollarbete.
4K-foto- och videoinspelning, dubbla mätlägen (inbyggd på skärmen + PC-programvara). Dubbellagring via U-disk & dator. Skärpedjupsyntes körs både på bildskärmen och PC-mjukvara; bildsömnad endast tillgänglig i PC-mjukvara. Sekundär utveckling som stöds för bildarkivering, jämförelse och avancerad analys.
Mekanik:Helmetallkonstruktion för hög styvhet och vibrationsmotstånd. Extra lång arbetsavstånd för observation av höghöjdsprov. Maskinvaruautofokusmodul utrustad, manuellt fokusläge också tillgängliga. Exakt grovfinfokusering utan bakslag. Slitstarkt manuellt XY mekaniskt steg. Trinokulär optisk väg upprätthåller optisk saminriktning vid byte av mål.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska objektiv med anti-im hård beläggning. Reflekterat ljus 6V-30W halogenlampa belysning.
Avbildning och mätning:8,3-megapixel 4K industriell CMOS-kamera. Multiutgång: HDMI + USB3.0 + WIFI, bra anti-interferensprestanda för industriell miljöanvändning. Stöder inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvara mätning. Dubbelvägslagring via U-disk och PC-mjukvara. Skärpedjupsyntes körs både på monitorn och PC-mjukvara; bildsömnad som uteslutande stöds av PC-programvara. Sekundärt utvecklingsgränssnitt tillgängligt via USB3.0 / WIFI.
Driftmiljö:Arbetstemperatur 10-35℃, relativ luftfuktighet 30-75%RH. Stabil under ordinarie fabrikens elektromagnetiska miljö. Undvik kraftiga vibrationer, frätande gaser och kraftigt damm. Håll WIFI-modulen borta från starka signalstörningskällor.
Kvalitet och underhåll:Fullständig fabriksinspektion. Ta inte isär optiska moduler eller autofokusmodul. Regelbunden dammsäker rengöring förlänger livslängden.
Halvledare och mikroelektronik (kärnapplikation):
Kiselskivor, litografiskivor, IC-chips, MOS-rör, PCB, FPC flexibla kretsar, förpackade lödfogar.
Inspektionsmål: chip-yta-mikrokretsmönster, wafer-etsningsdefekter, beläggning-repor,
förpackningsbubblor, kalllödningsfogar, oxidation och stiftdeformation. Ultrahög förstoring upp till 3800X för
observation av chip-skivor i mikronskala.
Metallografiska metallexemplar och metallskärverktyg:
Legerade metallografiska sektioner, stålskivor, precisionsstämplad metallhårdvara.
Inspektionsmål: metall-korn-struktur, värmebehandling-metallografisk-analys, mikro-ytsprickor,
banbrytande skärning, grader, slitagespår och inre material-föroreningar.
Laboratorieforskningsprov: Kristall, pulver och tunnfilm:
Enkel-/polykristaller, metallpulver, kemiskt pulver, optiska beläggningsfilmer, ultratunna filmmaterial.
Observera mikrokristallgitter, ultrafin-partikelmorfologi, filmdelaminering och mikrobeläggningstexturer.
Optoelektroniska precisions-plastkomponenter:
LED-chips, optiska-glas-linser, halvledare-förpackningslim.
Upptäck mikroporer, nano-repor, limdelaminering, bubblor och subtila ytojämnheter.
Miniatyr precisionskomponenter:
Kontaktdon, plintar, mikrofjädrar, små precisionsstämplade arbetsstycken.
4K-pixelnivå noggrann mätning för gap, håldiametrar, stigning och ythöjdsskillnader; DIC visualiserar
subtil krimpdeformation.
University Labs & High-End Semiconductor QC:
Material-forskning-experiment, metallurgi-undervisning-analys, inkommande-och-färdiga-varor-wafer-provtagning-inspektion;
foto-videoarkivering, exportera QC-rapporter med exakta mätningar via PC.
Utrustad med inbyggd 3840*2160 4K ultra-HD-bildbehandling. Lämplig för wafer-metallografisk-inspektion och metall-material-analys; visar tydligt kornstrukturer, mikrorepor och små mikrodefekter.
Maskinvaruautofokus utrustad för massproduktionsinspektion och frekvent provbyte. Snabb fokusering efter flytta arbetsstycken utan upprepad manuell justering för att öka effektiviteten. Manuellt fokusläge också tillgängligt för statisk provobservation.
Oberoende delad koaxial ljuskälla för metallexemplar, wafers och reflekterande PCB. Vertikal koaxial belysning dämpar metallreflekterande bländning och återställer riktiga metallografiska texturer. Motordrivet XY-steg kan väljas som valfri uppgradering.
Dubbelt förstoringsområde: 50-500X optisk förstoring, 380-3800X digital förstoring. Täcker båda hela exemplaren översikt och kontroll av mikrokorn / mikrodefekter.
Stöder inbyggd mätning på enheten och mätning av PC-programvara. Utrustad med HDMI, USB3.0 och WIFI-utgång hamnar. Foton, videor och mätdata kan sparas via kompatibel U-disk eller dator. Sekundär utveckling stöds för produktionslinjeintegration och labb-data-spårbarhet.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Punkt | Beskrivning |
| Produktmodell | GP-L700-462H Långt arbetsavstånd metallurgiskt autofokusmikroskop |
| Produktkategori | Vertikalt metallurgiskt mikroskop med hög förstoring av forskningskvalitet |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront visningssystem, delad koaxial vertikal ljuskällasmodul, högupplöst metallurgisk objektivuppsättning, 4K ultra-HD CMOS-bildsensor, maskinvaruautofokussystem, trippelkanal överföring (HDMI+USB3.0+WIFI), system med dubbla mätningar, syntes av skärpedjup och sammanfogning av bilder algoritm, öppen arkitektur som stöder integration av sekundär utveckling |
| Nyckelspecifikationer | Optisk förstoring: 50/100/200/500×; Elektronisk förstoring: 380/760/1520/3800×; Trippelutgång hamnar: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-upplösning: 3840×2160; Autofokusutrustad maskinvara (även manuell fokusering tillgänglig); Dubbla mätningslägen: inbyggd exakt mätning + matchad PC-mjukvara mätning; Dubbla lagringslägen: U-disklagring + lagring av datorprogramvara; Monitorterminal stöder dimensionell mätning, förhandsgranskning av HD-bilder, foto-videoinspelning, syntes av skärpedjup; PC-terminal stöder dimensionsmätning, fillagring, skärpedjupsyntes och bildsömnad; Stöd för hela enheten integration i sekundär utveckling. |
| Typiska tillämpningsscenarier | Wafer-chip-kornobservation, halvledarförpackning mikrodefektinspektion, metallmaterial metallografisk analys, precision-krets mikro-defekt-detektering, elektronisk-komponent-felanalys, avancerad-material-laboratorie-forskning |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Fabriksplats | Kunshan City, Jiangsu-provinsen, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L700-462H |
| Upplösning | 3840×2160 |
| Riktigt effektiva pixlar | 8 300 000 pixlar |
| Fokuseringsmetod | Autofokus |
| Optiskt format | 1/1,8" |
| Pixelstorlek | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Utdatametod | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Detaljerade funktionsintroduktioner som motsvarar varje utgångsgränssnitt | ① HDMI ansluts till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd
hårdvarudriven autofokus, fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning
och
bildjämförelse, styrd av mus i realtid. ② USB 3.0 ansluts till dator, medföljer högkvalitativ professionell bildbehandlingsprogramvara för fotoinsamling, dimensionsmätning, skärpedjupsfusion och bildsömnad. ③ WIFI-modul ansluts till bärbara datorer eller mobila enheter; bildöverföring, fotografering och lagring i realtid via matchande programvara. |
| Bildhastighet | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30 fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Djup-of-field-syntes | Stöds av både HDMI on-monitor firmware och PC-mjukvara |
| Bildsömnad | Stöds endast på PC-programvaran |
| Mätmetod | Inbyggt on-monitor mätsystem + PC-mjukvara mätning |
| Mätnoggrannhet | 0,002-0,005 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disklagring + PC-mjukvara lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4 GHz huvudkontrollprocessor |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; mellan pupillinställningsområde: 53-75 mm |
| Observationslägen | Ljusfält / sned belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem för fallande ljus, 100-240V bredspänningsingång, justerbar glödtrådscentrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Rack för skjutning, koaxial grovfinfokuseringsmekanism med lås- och begränsningsanordningar;
finrörelsegradueringsvärde: 2 μm. Halogen-lampa reflekterat ljus belysning. ② Ljusfält reflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och färgfilteromkopplingsenhet. ③ Gul, blå, gröna filter och frostat glas medföljer för reflekterat ljus. |
| Mekanisk scen | Basmått: 300 mm × 240 mm; Scendimension: 185 mm × 140 mm; X-Y rörelse: 35 mm × 30 mm. Lämplig för relativt höga arbetsstycken. |
| Ljuskälla | 6V 30W halogenlampa kammare (endast reflekterat ljus). |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull typ polarisator och analysator installerad |
| Elektroniskt gränssnitt | 1X C-monterad kameragränssnitt, icke-justerbar fokus; CTV 0.5X är tillval med prisskillnad ersättning. |
| Okular | Två WF10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med individuell dioptrijustering |
| Nosstycke | ★Mingchang femhåls objektiv nosstycke |
| Metallurgiska mål | ★ Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska mål ① PL L5X/0,12, arbetsavstånd: 26,1 mm × 1 st ② PL L10X/0,25, arbetsavstånd: 20,2 mm × 1 st ③ PL L20X/0,40, arbetsavstånd: 8,80 mm × 1 st ④ PL L50X/0,70, arbetsavstånd: 3,68 mm × 1 st ⑤ PL L100X/0,85, arbetsavstånd: 0,40 mm (valfritt, ingår inte i standardpaketet) |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X (omkopplingsbar i fyra nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X (omkopplingsbar i fyra nivåer); valfritt förstoringsområde: 190-1900X. |
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Mikroskopisk dimensionell inspektion för automatiserad precisionsbearbetade delar
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensionell och mikrofelsdetektering för precisionsbearbetning delar
Tianjin University of Commerce – Material-laboratorie-undervisning, mikrobildbehandling och experimentell-data-arkivering
Fudan University – Mikro-nano-material och biomedicinsk mikroskopisk-observations-forskning
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalys av oorganisk keramik och nyenergimaterial
DOOV – Mobil-enhet-montering-inspektion, skärm- och komponent-utseende-testning
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. grundades formellt 2011. Vårt grundarteam samlades rika optisk-inspektion-instrument-industri-erfarenhet med start 2005. Vi levererar helcykeltjänster som omfattar optisk design, oberoende-FoU, global försäljning och omfattande-efter-försäljning-underhållstjänster. Vår högutbildad ingenjörsgrupp har mer än tio års praktisk erfarenhet av utveckling av optiska instrument för att leverera beprövad-stabil-teknik och pålitlig-produkt-kvalitet.
GAOPIN upprätthåller en bred optisk produktportfölj med mer än hundra inspektionsorienterade instrument betjänar industri- och laboratoriekunder över hela världen. Vi utvecklar flexibla, kostnadseffektiva skräddarsydda mikroskopi-lösningar att matcha olika industriella testmål.
Snabb världsomspännande teknisk assistans tillhandahålls för utländska partner inklusive virtuella-online-diskussioner, praktiskt- video-walk-throughs och live-fjärroperatörsutbildning. Våra tillverkningslokaler ligger i Kunshan, Jiangsu provins (nära Shanghai). På plats-fabriksbesök och virtuella-online-turer är varmt välkomna. Vänligen kontakta vår säljteam för autentiska-prov-test-foton tagna med detta långa arbetsavstånd metallurgiska autofokusmikroskop för att utvärdera real-imaging-kapacitet.
A1: Utrustad med HDMI, USB3.0 och WIFI-gränssnitt. Den stöder fristående monitordrift eller trådbunden/trådlös PC kollaborativ-detektion.
A2: Den stöder 4K ultra-HD foto- och videoinspelning. Filer kan sparas på FAT32-formaterad U-disk inom 32 GB kapacitet eller datorlagring. Stöder exakt mätning på både skärm och PC-programvara, inklusive dimensionsmärkning, funktioner för dataarkivering och rapportexport.
A3: Kontrollera strömförsörjningen och matchande adapter; fäst HDMI-kabeln ordentligt och byt bildskärm till rätt signalkälla; starta om enhet för att lösa fel med svart skärm, ingen bild och skärmflimmer.
A4: Denna modell stöder hårdvaruautofokus och dubbla lägen med manuell fokus. Aktivera autofokus för snabb bildtagning eller finjustering manuellt. Lås objektivlinsen ordentligt, lägg provet plant och rengör regelbundet linsdamm och fingeravtryck för skarpa bildbehandling.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
