GP-L700-300C är ett metallurgiskt mikroskop med långa arbetsavstånd med justerbar förstoring med fyra hastigheter. Långt arbetsavstånd metallurgiskt mikroskop antar oändlighetskorrigerat optiskt system med snabb förstoringsväxling med fyra växlar, som täcker både bredfältsöversikt och fin mikroskopisk observation. Den trinokulära porten stöder uppgradering av kameramodul. Lämplig för metallografi analys, komponentinspektion och arbetsflöden för materialvetenskap-forskning.
Detta metallurgiska mikroskop med långa arbetsavstånd är lämpligt för inspektion av precisionskomponenter, integrerade kretsar och förpackningsmaterial produkter.
Kameramodul inbyggd i trinokulärt hölje för samtidig visning via okular och monitor. HDMI i realtid mikrobildutgång kombinerar observations- och inspelningsarbetsflöden.
Precisionslins med flera lager optisk väg med fyra stegs förstoring; max digital förstoring upp till 3800X, levererar skarpa detaljer för inspektion av små rån, spån och spannmål.
Samordnade fokusknappar och förstärkt linshylsa möjliggör stadig, skakfri fokusering, idealisk för fina inspektion under ultrahög förstoring.
Överdimensionerad fyrkantig metallbas och solid stödarm ger balanserad viktfördelning, vilket förhindrar skakning under långa timmars inspektion med hög förstoring.
Styv svart-vit metallkropp med delad modulär ljuskälla layout, levererar professionellt labbinstrument textur.
Optimerad för wafer-, flis- och spannmålsinspektion; också allmänt tillämpad inom metallografisk analys, materialforskning, akademisk-undervisning och industriellt kvalitetskontrollarbete.
CCD-modulen uppgraderar traditionell visuell observation till digital bildbehandling. Stöder 1080P foto- och videoinspelning med U-skiva lagring. Digitala bilder förenklar filarkivering, jämförelse och analys efter experiment.
1. Förstoring:380-3800X fyrväxlad högförstoring för korn- och spånmikrostruktur observation. Vanliga metallurgiska mikroskop har lägre maximal förstoring och suddiga bilder vid hög effekt, och kan inte observera små metallkorn.
2. Bildsystem:Inbyggd 1080P HD-kamera, synkroniserad okular- och bildskärmsvisning. Vanligt metallurgiska mikroskop använder lågupplösningskamera och endast okularvisning.
3. Mätning och lagring:Inbyggd på bildskärmen exakt mätning, foto-video-fångst för test-bevis-arkivering. Vanliga metallurgiska mikroskop har inga ombordmätningar och kräver PC-programvara för all mätning och filsparande.
4. Användningsområde:Optimerad för exakt inspektion av wafers, halvledarchips och metall korn. Vanliga metallurgiska mikroskop är endast lämpliga för enkel observation av metallskivor med dålig prestanda för fina chip-grade prover.
Halvledare och mikroelektronik (kärnapplikation):
Kiselskivor, litografiskivor, IC-chips, MOS-rör, PCB, FPC flexibla kretsar, förpackade lödfogar.
Inspektionsmål: mikrochipkretsmönster, waferetsningsdefekter, beläggningsrepor, förpackningsbubblor,
kalllödningsfogar, oxidation och stiftdeformation.
Metallografiska metallexemplar och metallskärande verktyg:
Legerade metallografiska sektioner, stålskivor, precisionsstansad metallhårdvara.
Inspektionsmål: metall-kornstruktur, värmebehandling metallografisk analys, mikro-ytsprickor,
banbrytning, grader, slitage och föroreningar i interna material.
Laboratorieforskningsprov: Kristall, pulver och tunnfilm:
Enkel-/polykristaller, metallpulver, kemiskt pulver, optiska beläggningsfilmer, ultratunna filmmaterial.
Observera mikrokristallgitter, ultrafina partikelmorfologi, filmdelaminering och mikrobeläggningsstrukturer.
Optoelektroniska och precisionsplastkomponenter:
LED-chips, optiska glaslinser, halvledarförpackningslim.
Upptäck mikroporer, nano-repor, limdelaminering, bubblor och subtila ytojämnheter.
Miniatyr precisionskomponenter:
Kontaktdon, plintar, mikrofjädrar, små precisionsstämplade arbetsstycken.
Noggrann mätning på pixelnivå för gap, håldiametrar, stigning och ythöjdsskillnader; observera subtila
krimp-deformation.
University Labs & High-End Semiconductor QC:
Material-forskningsexperiment, metallurgi-undervisning-analys, inkommande-och-färdiga-varor wafer provtagning-inspektion;
foto-videoarkivering.
Mekanik:Helmetallkonstruktion för hög styvhet och vibrationsmotstånd. Extra lång arbetsavstånd för provobservation i hög höjd. Exakt grovfinfokusering utan bakslag. Slitstark manuellt XY mekaniskt steg. Trinokulär optisk bana bibehåller optisk saminriktning vid byte av objektiv.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska objektiv med anti-im hård beläggning. Reflekterat ljus 6V-30W halogenlampa belysning.
Avbildning och mätning:Industriell HDMI 1080P kamera med bra anti-interferensprestanda för industriell miljöanvändning. Firmware-baserad mätning på monitor; fabriksförkalibrerad; parametrar kvarstår efter avstängning; ingen daglig kalibrering krävs. Spara ögonblicksbilder och videor endast via kompatibel U-disk.
Driftmiljö:Arbetstemperatur 10-35℃, relativ luftfuktighet 30-75%RH. Stabil under ordinarie fabrikens elektromagnetiska miljö. Undvik kraftiga vibrationer, frätande gaser och kraftigt damm.
Kvalitet och underhåll:Fullständig fabriksinspektion. Ta inte isär optiska moduler. Vanligt dammsäker rengöring förlänger livslängden.
| Punkt | Beskrivning |
| Produktmodell | GP-L700-300C Metallurgiskt mikroskop med långa arbetsavstånd |
| Produkttyp | Högförstoringsgradigt vertikalt metallurgiskt mikroskop av forskningskvalitet med separat koaxial vertikal belysning |
| Kärnteknik | Trinokulärt synkront betraktande optiskt system, oberoende koaxiell vertikal ljuskälla, högupplöst metallurgisk objektivuppsättning, HD CMOS-bildsensor, inbyggd digital precisionsmätningsmodul, HDMI-videoutgång i realtid, U-disk lokal bildlagring |
| Kärnparametrar | Optisk förstoring: 50/100/200/500×; Elektronisk förstoring: 380/760/1520/3800×; Utgångsgränssnitt: Endast HDMI; Fånga upplösning: 1920*1080; Fokusläge: Manuell fokusering; Mått: Inbyggd funktion för exakt mätning; Lagring: U-disklagring; Funktioner: HD-bildförhandsgranskning, fotografering och videoinspelning på monitor. |
| Applikationsfält | Wafer & chip korn observation, halvledar-förpackning inspektion, metall-korn metallografisk analys, precision-krets mikro-defekt-detektering, elektroniska-komponent-fel-analys, material-laboratorium- forskning |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Fabriksplats | Kunshan City, Jiangsu-provinsen, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L700-300C |
| Upplösning | 1920×1080 |
| Riktigt effektiva pixlar | 2 megapixlar |
| Fokuseringsmetod | Manuell fokusering |
| Optiskt format | 1/2" |
| Pixelstorlek | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Utdatametod | HDMI |
| Detaljerade funktionsintroduktioner som motsvarar varje utgångsgränssnitt | ① HDMI ansluts till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning och bildjämförelse, manövrerad med musen i realtid. |
| Bildhastighet | HDMI: 60 fps @1920*1080 |
| Djup-of-field-syntes | / |
| Bildsömnad | / |
| Mätmetod | Inbyggt mätsystem på monitorn |
| Mätnoggrannhet | 0,001 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disk lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1,3 GHz |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; mellan pupillinställningsområde: 53-75 mm |
| Observationslägen | Ljusfält / sned belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem för fallande ljus, 100-240V bredspänningsingång, justerbar glödtrådscentrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Rack för skjutning, koaxial grovfinfokuseringsmekanism med lås- och begränsningsanordningar;
finrörelsegradueringsvärde: 2 μm. Halogen-lampa reflekterat ljus belysning. ② Ljusfält reflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och färgfilteromkopplingsenhet. ③ Gul, blå, gröna filter och frostat glas medföljer för reflekterat ljus. |
| Mekanisk scen | Basmått: 300 mm × 240 mm; Scendimension: 185 mm × 140 mm; X-Y rörelse: 35 mm × 30 mm. Lämplig för observera relativt höga arbetsstycken. |
| Ljuskälla | 6V 30W halogenlampa kammare (endast reflekterat ljus). |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull typ polarisator och analysator installerad |
| Elektroniskt gränssnitt | 1X C-monterad kameragränssnitt, icke-justerbar fokus; CTV 0.5X är tillval med prisskillnad ersättning. |
| Okular | Två WF10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med individuell dioptrijustering |
| Nosstycke | ★Mingchang femhåls objektiv nosstycke |
| Metallurgiska mål | ★ Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska mål ① PL L5X/0,12, arbetsavstånd: 26,1 mm × 1 st ② PL L10X/0,25, arbetsavstånd: 20,2 mm × 1 st ③ PL L20X/0,40, arbetsavstånd: 8,80 mm × 1 st ④ PL L50X/0,70, arbetsavstånd: 3,68 mm × 1 st ⑤ PL L100X/0,85, arbetsavstånd: 0,40 mm (valfritt, ingår inte i standardpaketet) |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X (omkopplingsbar i fyra nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X (omkopplingsbar i fyra nivåer); valfritt förstoringsområde: 190-1900X. |
Utrustad med inbyggd 1920*1080 HD-bildbehandling. Lämplig för observation av metallografisk struktur och grundläggande spånkorn inspektion; visar tydligt metallkorn och små ytstrukturer av chips.
Manuell fokusdesign passar statiska laboratorieprover och lågfrekvent arbetsstyckesbyte. Stabil finjustering möjliggör långvarig exakt statisk provobservation.
Utrustad med separat koaxiell ljuskälla och trinokulär metallurgisk optisk väg för metallexemplar, chip skivor och små-medelstora PCB. Vertikal koaxialbelysning minskar metallreflekterande bländning och återställer verklig metallografisk texturer.
Fyra växlars förstoringsområde: 50-500X optisk förstoring, 380-3800X digital förstoring. Täcker båda översikt över hela provet och inspektion av mikrokorn / mikrodefekter.
Inbyggd precisionsmätfunktion, HDMI-utgång i realtid och U-disk för att spara inspektionsfoton och mätdata för grundläggande laboratoriearkiveringsändamål.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
DOOV – Mobil-enhet-montering-inspektion, skärm- och komponent-utseende-testning
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalys av oorganisk keramik och nyenergimaterial
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & optisk-komponent-karakterisering
GREE Electric Appliances (Hefei) – Precisionsmått-mätning och defektkontroll för hushållsapparater-delar
Tsinghua University – Undervisning, laboratorieavbildning och experimentell dataarkivering
NIO Shanghai – Precisionsinspektion av nyenergibilsdelar och kablage
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. grundades officiellt 2011. Vårt grundarteam samlades rika optisk-inspektion-instrument-industri-erfarenhet med start 2005. Vi levererar helcykeltjänster som omfattar produktdesign, intern FoU, global försäljning och omfattande eftermarknadsunderhållstjänster. Vår skickligt ingenjörsteam har mer än tio års erfarenhet av optiska instrument-utveckling för att säkerställa stabil-teknisk prestanda och pålitlig produktkvalitet.
GAOPIN levererar mer än hundra kategorier av optiska testinstrument industri- och laboratoriekunder över hela världen. Vi utvecklar flexibla, kostnadseffektiva skräddarsydda mikroskopilösningar för mångsidig-industriell-kvalitetskontroll och laboratorie-analys-projekt.
För utländska köpare tillhandahåller vi lyhörd världsomspännande teknisk support inklusive fjärrkonsultationer online, praktiskt- video-tutorials och live-fjärr-utrustning-drift-träning. Vår produktionsanläggning ligger i Kunshan, Jiangsu Provinsen (nära Shanghai). På plats-fabriksbesök och virtuella-online-turer är välkomna. Vänligen kontakta vår säljteam för autentiska-prov-testning-foton tagna med detta långa arbetsavstånd metallurgiska mikroskop för att utvärdera verklig bildprestanda.
A1: Optisk förstoring: 50-500×; Elektronisk förstoring: 380-3800×. Synkron observation via okular och övervaka finns tillgänglig för exakt mikroinspektion.
A2: Endast HDMI högupplöst videoutgång för fristående monitordrift. Allt-i-ett-design säkerställer enkel och enkel operation.
A3: Den stöder 1080P foto- och videoinspelning och inbyggd exakt mätning på skärmen. Filer kan sparas via FAT32-formaterad U-disk med en kapacitet på 32 GB.
A4: Placera provet plant, minska förstoringen på lämpligt sätt, rengör objektivets yta och justera långsamt fokus handratt för skarp bild.
A5: Säkerställ stabil strömförsörjning; fäst HDMI-kabeln ordentligt; välj rätt monitorsignalkälla och starta om enheten.
A6: Endast 32 GB eller mindre FAT32-formaterad U-disk är kompatibel. Sätt in eller formatera om U-disken för att lösa lagringsrelaterad frågor.
A7: Används brett inom metallografisk analys, precisionselektronik, hårdvaruinspektion, ytdefektdetektering, industriell-kvalitetskontroll, vetenskaplig-forskning och undervisningsarbete.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
