GP-L700-324K är ett 4K-forskningsgradigt metallurgiskt mikroskop med långa arbetsavstånd med 4K Ultra HD, utrustat med oändlighetskorrigerade planakromatiska långa arbetsavståndsmål. 4K Ultra HD Long Working Distance Metallurgical Microscope ger gott om arbetsavståndsutrymme och ger platta, skarpa bilder över hela synfältet med välkorrigerad kromatisk aberration och fält krökning. Inbyggt 4K-bildsystem fångar fina mikrodetaljer. Trinokulär port stöder bildanalys-mjukvara anslutning. Idealisk för metallografisk forskning, inspektion av halvledarskivor och arbetsflöden för analys av ytdefekter.
Detta 4K Ultra HD metallurgiska mikroskop med långa arbetsavstånd är lämpligt för testning av precisionskomponenter, integrerade kretsar och förpackningsmaterialprodukter.
Mekanik:Helmetallkonstruktion för hög styvhet och vibrationsmotstånd. Extra lång arbetsavstånd för hög-höjd-provobservation. Exakt grovfinfokusering utan bakslag. Slitstark manuellt XY mekaniskt steg. Trinokulär optisk bana bibehåller optisk saminriktning vid byte av objektiv.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska objektiv med anti-im hård beläggning. Reflekterat ljus 6V-30W halogenlampa belysning.
Avbildning och mätning:8,3-megapixel 4K industriell CMOS-kamera. Dubbel utgång: HDMI + Gigabit-LAN port, bra anti-interferensprestanda för industriell miljöanvändning. Stöder inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvara mätning. Förkalibrerad på fabrik; parametrar kvarstår efter avstängning; nej daglig-kalibrering-krävs. Dubbelvägslagring via U-disk och PC-mjukvara. Skärpedjupsyntes och bildsammansättning endast tillgänglig på PC-programvara. Sekundärt utvecklingsgränssnitt tillgängligt över Gigabit-LAN.
Driftmiljö:Arbetstemperatur 10-35℃, relativ luftfuktighet 30-75%RH. Stabil under vanlig-fabriks-elektromagnetisk-miljö. Undvik kraftiga vibrationer, frätande gaser och kraftigt damm.
Kvalitet och underhåll:Fullständig fabriksinspektion. Ta inte isär optiska moduler. Vanligt dammsäker rengöring förlänger livslängden.
1. Förstoring:380-3800X fyrväxlad högförstoring för korn-och-chip-mikrostruktur observation. Vanliga metallurgiska mikroskop har lägre maximal förstoring och suddiga bilder vid hög effekt, och kan inte observera små metallkorn.
2. Bildsystem:Inbyggd 4K-kamera av forskningskvalitet, synkroniserad okular- och bildskärmsvisning. Vanliga metallurgiska mikroskop använder lågupplöst 2K-kvalitetskamera och endast okularvisning.
3. Mätning och lagring:Inbyggd på bildskärmen exakt mätning, foto-video-fångst för test-bevis-arkivering. Vanliga metallurgiska mikroskop har inga ombordmätningar och kräver PC-mjukvara för allt mätnings- och filsparande arbete.
4. Användningsområde:Optimerad för exakt inspektion av wafers, halvledarchips och metall korn. Vanliga metallurgiska mikroskop är endast lämpliga för enkel observation av metallskivor med dålig prestanda för fina chip-grade prover.
4K-kamera inbyggt trinokulärt hölje för samtidig visning via okular och monitor. Dubbelportsutgång via HDMI och Gigabit-LAN sänder ultratydliga mikrografer i realtid.
Precisionslins med flera lager optisk väg med fyra stegs förstoring; max digital förstoring upp till 3800X, levererar skarpa mikrostrukturdetaljer på mikronnivå för wafer, spån och spannmålsinspektion.
Samordnade fokusknappar och förstärkt linshylsa möjliggör stadig, vibrationsfri fokusering, perfekt lämpad för fininspektion under ultrahög förstoring. Endast manuell fokus.
Överdimensionerad tjock fyrkantig metallbas ger stabil viktbalans, vilket eliminerar förskjutningar eller skakningar under långa kontinuerliga observation med hög effekt.
Styv svart-vit metallkropp med separat löstagbar ljuskälla-modul, minimalistisk professionell design för labb och halvledarproduktionslinjer.
Optimerad för wafer-and-chip-inspektion; också allmänt tillämpad på metallografisk analys, avancerad materialforskning, akademiskt-undervisning och precisionsindustriellt kvalitetskontrollarbete.
4K-foto- och videoinspelning, dubbla mätlägen (inbyggd på skärmen + PC-programvara). Dubbellagring via U-disk & dator. Skärpedjupsyntes och bildsömnadsfunktioner körs uteslutande på stödjande PC-programvara. Sekundärutveckling stöds över LAN-port för bildarkivering, jämförelse och avancerad dataanalys.
Halvledare och mikroelektronik (kärnapplikation):
Kiselskivor, litografiskivor, IC-chips, MOS-rör, PCB, FPC flexibla kretsar, förpackade lödfogar.
Inspektionsmål: mikrochipkretsmönster, wafer-etsningsdefekter, beläggning-repor, förpackningsbubblor,
kalllödningsfogar, oxidation och stiftdeformation.
Metallografiska metallexemplar och metallskärverktyg:
Legerade metallografiska sektioner, stålskivor, precisionsstämplad metallhårdvara.
Inspektionsmål: metall-korn-struktur, värmebehandling-metallografisk-analys, mikro-ytsprickor,
banbrytande skärning, grader, slitagespår och inre material-föroreningar.
Laboratorieforskningsprov: Kristall, pulver och tunnfilm:
Enkel-/polykristaller, metallpulver, kemiskt pulver, optiska beläggningsfilmer, ultratunna filmmaterial.
Observera mikrokristallgitter, ultrafin-partikelmorfologi, filmdelaminering och mikrobeläggningstexturer.
Optoelektroniska precisions-plastkomponenter:
LED-chips, optiska-glas-linser, halvledare-förpackningslim.
Upptäck mikroporer, nano-repor, limdelaminering, bubblor och subtila ytojämnheter.
Miniatyr precisionskomponenter:
Kontaktdon, plintar, mikrofjädrar, små precisionsstämplade arbetsstycken.
4K-pixelnivå noggrann mätning för gap, håldiametrar, stigning och ythöjdsskillnader; observera subtila
krimp-deformation.
University Labs & High-End Semiconductor QC:
Material-forskning-experiment, metallurgi-undervisning-analys, inkommande-och-färdiga-varor-wafer-provtagning-inspektion;
foto-videoarkivering, exportera QC-rapporter med exakta mätningar via PC.
Utrustad med inbyggd 3840*2160 4K ultra-HD-bildbehandling. Lämplig för wafer-metallografisk-inspektion och metall-material-analys; visar tydligt korngränser, mikrorepor och små mikrodefekter.
Manuell-fokusdesign passar laboratorie-forskning-prover och universitets-material-forskning. Enhetlig stabil finjustering stöder långsiktig statisk provobservation.
Oberoende delad koaxial ljuskälla för halvledarskivor, metallexemplar och precisa PCB-skivor. Vertikal koaxial belysning dämpar metallreflekterande bländning och återställer riktiga metallografiska texturer.
Dubbelt förstoringsområde: 50-500X optisk förstoring, 380-3800X digital förstoring. Täcker båda hela exemplaren översikt och kontroll av mikrokorn / mikrodefekter.
Stöder inbyggd mätning på enheten och mätning av PC-programvara. Utrustad med HDMI och Gigabit-LAN dubbelutgång hamnar. Foton, videor och mätdata kan sparas via kompatibel U-disk eller dator. Sekundär-utveckling stöds för produktionslinjeintegration och labbdataspårbarhet.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Punkt | Beskrivning |
| Produktmodell | GP-L700-324K Långt arbetsavstånd metallurgiskt mikroskop med 4K Ultra HD |
| Produktkategori | Vertikalt metallurgiskt mikroskop med hög förstoring av forskningskvalitet med delad vertikal belysning Ljus Källa |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront betraktande optiskt system, delad oberoende koaxiell vertikal ljuskällasmodul, högupplöst metallurgisk objektivlinsuppsättning, 4K ultra-HD CMOS-bildsensor, dubbla mätsystem (på enheten inbyggd exakt mätning + PC-mjukvara mätning), HDMI+Gigabit-LAN dubbelkanalssignal transmission, lösning med dubbla lagringsenheter, öppen arkitektur som stöder dockning för sekundär utveckling |
| Nyckelspecifikationer | Optisk förstoring: 50/100/200/500×; Elektronisk förstoring: 380/760/1520/3800×; Dubbel utgång gränssnitt: HDMI + Gigabit-LAN-port; 4K-upplösning: 3840×2160; Fokusläge: Manuell fokusering; Dubbla mätningslägen: inbyggd exakt mätning + dedikerad PC-mjukvara mätning; Dubbel lagring lägen: U-disk lokal lagring + PC-programvara lagring; Övervakningsterminalfunktioner: Dimensionell mätning, HD bildvisning, fotoarkivering; PC-terminalfunktioner: Dimensionell mätning, fotolagring; Anmärkning: Stöder integration av sekundär utveckling. |
| Typiska tillämpningsscenarier | Wafer-&-chip-kornobservation, halvledare-förpackningsdefekt-inspektion, metall-korn metallografisk-strukturanalys, precision-krets-liten-fel-detektering, elektronisk komponent-fel- analys, nytt-material-laboratorie-vetenskaplig-forskning |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Fabriksadress | Kunshan City, Jiangsu-provinsen, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L700-324K |
| Upplösning | 3840×2160 |
| Riktigt effektiva pixlar | 8,3 megapixlar |
| Fokuseringsmetod | Manuell fokusering |
| Optiskt format | 1/1,7" |
| Pixelstorlek | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Utdatametod | HDMI + Gigabit Ethernet LAN-port |
| Detaljerade funktionsintroduktioner som motsvarar varje utgångsgränssnitt | ① HDMI ansluts till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd
fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning och bildjämförelse, manövrerad
med musen i realtid. ② Gigabit LAN-port ansluter till routrar, switchar eller datorer för nätverk bild överföring. Datorer inom samma nätverkssegment kan ta emot video i realtid och utlösa infångning via matchande programvara. |
| Bildhastighet | HDMI: 60fps @3840×2160 Gigabit LAN: 20fps @1920×1080 |
| Djup-of-field-syntes | / |
| Bildsömnad | / |
| Mätmetod | Inbyggt on-monitor mätsystem + PC-mjukvara mätning |
| Mätnoggrannhet | 0,001 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disklagring + PC-mjukvara lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4 GHz huvudkontrollprocessor |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; mellan pupillinställningsområde: 53-75 mm |
| Observationslägen | Ljusfält / sned belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem för fallande ljus, 100-240V bredspänningsingång, justerbar glödtrådscentrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Rack för skjutning, koaxial grovfinfokuseringsmekanism med lås- och begränsningsanordningar;
finrörelsegradueringsvärde: 2 μm. Halogen-lampa reflekterat ljus belysning. ② Ljusfält reflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och färgfilteromkopplingsenhet. ③ Gul, blå, gröna filter och frostat glas medföljer för reflekterat ljus. |
| Mekanisk scen | Basmått: 300 mm × 240 mm; Scendimension: 185 mm × 140 mm; X-Y rörelse: 35 mm × 30 mm. Lämplig för observera relativt höga arbetsstycken. |
| Ljuskälla | 6V 30W halogenlampa kammare (endast reflekterat ljus). |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull typ polarisator och analysator installerad |
| Elektroniskt gränssnitt | 1X C-monterad kameragränssnitt, icke-justerbar fokus; CTV 0.5X är tillval med prisskillnad ersättning. |
| Okular | Två WF10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med individuell dioptrijustering |
| Nosstycke | ★Mingchang femhåls objektiv nosstycke |
| Metallurgiska mål | ★ Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska mål ① PL L5X/0,12, arbetsavstånd: 26,1 mm × 1 st ② PL L10X/0,25, arbetsavstånd: 20,2 mm × 1 st ③ PL L20X/0,40, arbetsavstånd: 8,80 mm × 1 st ④ PL L50X/0,70, arbetsavstånd: 3,68 mm × 1 st ⑤ PL L100X/0,85, arbetsavstånd: 0,40 mm (valfritt, ingår inte i standardpaketet) |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X (omkopplingsbar i fyra nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X (omkopplingsbar i fyra nivåer); valfritt förstoringsområde: 190-1900X. |
Ansvarsfriskrivning:Logotyper och namn på företag, universitet och forskningsinstitutioner som visas på endast denna webbplats indikerar att sådana enheter har köpt eller använt mikroskop av märket GAOPIN. Deras utseende ska inte vara det tolkas som köp av denna exakta produktmodell, och ska inte innebära något kommersiellt stöd, co-branding, anknytning eller projektpartnerskap med dessa tredjepartsorganisationer.
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
Huawei Electronics – Inkommande-material-inspektion & produktionslinje-QC för elektroniska-komponenter
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Mikroskopisk-dimensionell inspektion för automatiserade precisionsbearbetade delar
NIO Shanghai – Precisionsinspektion för nya-energi-bildelar och ledningsnät
Tsinghua University – Undervisning, laboratorieavbildning och experimentell dataarkivering
Dabo Medical – Mikromorfologi-analys av implantat-medicinska-enheter och biomaterial
Fudan University – Mikro-nano-material och biomedicinsk mikroskopisk-observations-forskning
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. grundades officiellt 2011. Vårt grundarteam samlades rika optisk-inspektion-instrument-industri-erfarenhet med start 2005. Vi levererar helcykeltjänster som omfattar produktdesign, intern FoU, global försäljning och omfattande eftermarknadsunderhållstjänster. Vår skickligt ingenjörsteam har mer än tio års erfarenhet av optiska instrument-utveckling för att säkerställa stabil-teknisk prestanda och pålitlig produktkvalitet.
GAOPIN levererar mer än hundra kategorier av optiska testinstrument industri- och laboratoriekunder över hela världen. Vi utvecklar flexibla, kostnadseffektiva skräddarsydda mikroskopilösningar för mångsidig-industriell-kvalitetskontroll och laboratorie-analys-projekt.
För utländska köpare tillhandahåller vi lyhörd världsomspännande teknisk support inklusive fjärrkonsultationer online, praktiskt- video-tutorials och live-fjärr-utrustning-drift-träning. Vår produktionsanläggning ligger i Kunshan, Jiangsu Provinsen (nära Shanghai). På plats-fabriksbesök och virtuella-online-turer är välkomna. Vänligen kontakta vår säljteam för autentiska-prov-test-foton tagna med detta långa arbetsavstånd metallurgiska mikroskop med 4K Ultra HD för att utvärdera verklig bildprestanda.
A1: Utrustad med dubbla gränssnitt med HDMI-högupplösningsutgång och LAN-port. Den stöder realtidsavbildning av ansluta till en bildskärm direkt, och datoranslutning via nätverkskabel. Utan USB- och WIFI-gränssnitt stöder den båda självständigt-drift och dator-samarbete.
A2: Den stöder 4K ultra-HD foto- och videoinspelning, och lagrar filer via FAT32 U-disk (inom 32G). Den stöder dubbla exakt mätning på skärm och PC-mjukvara, inklusive dimensionsmärkning, databesparing och mätning-rapport-export funktioner som uppfyller kraven för exakt upptäckt och arkivering.
A3: Kontrollera enhetens strömförsörjning och matchade adapter, fäst HDMI-kabeln ordentligt, byt bildskärm till motsvarande HDMI- signal-kanal, starta om enheten för att fixa problem med svart skärm och inga bilder.
A4: Genom att använda högprecisionsdesign för manuell fokusering, justera långsamt fokushandratten för tydlig bild. Lås objektiv-linsen placera provet stadigt plant och rengör regelbundet damm och fläckar på linsen med professionella verktyg för att säkerställa tydlig och exakt avbildning.
A5: Se till att enheten och datorn är inställda på samma IP-segment, avstängning av dator-brandvägg och avlyssningsprogramvara, Koppla in nätverkskabeln igen ordentligt, starta om enheten och stödjande mätprogramvara för normal anslutning.
A6: Enheten stöder endast FAT32 U-diskar inom 32G och stöder inte NTFS och exFAT U-diskar med stor kapacitet. För igenkänningsfel, plugga om eller formatera-U-disk, eller ersätt med kompatibel-U-disk för normal-fil-lagring.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
