GP-L500-300C är ett metallografiskt mikroskop av forskningskvalitet med en extra stor rörlig scen för stora prover. Metallurgiskt mikroskop med hög förstoring i stort steg levererar 1080P HD-avbildning för att visa tydliga mikrostrukturdetaljer. Den trinokulära porten stöder kamerainstallation för arbetsflöden för metallografisk analys. Den är idealisk för metallurgiobservation av stora material, halvledare inspektion, PCB-skivanalys och scenarier för kvalitetskontroll av industrilaboratorier.
Detta metallurgiska mikroskop med stor förstoring är lämpligt för mikroskopisk observation av metallografiska mikrostrukturer och ytmorfologi. Det fungerar som ett idealiskt forskningsverktyg för metallurgi, mineralogi och precisionsteknik.
HD-kamera inbyggt trinokulärt hölje för samtidig visning via okular och monitor. HDMI-mikrobild i realtid output kombinerar observations- och inspelningsarbetsflöden.
Optisk förstoring 50-800X; max ren-digital förstoring upp till 6080X med fem-objektiv-objektiv. Precision optisk väg ger skarpa detaljer för mikroinspektion av wafer och chip.
Stabila fokusknappar matchade med linshylsa säkerställer skonsam fokusering och minskar bildskakningar.
Överdimensionerad rörlig exemplar-scen parad med tjock metallbas. Förblir stabilt för stora prover utan vingling under långtidsobservation.
Minimalistisk helvit stel ram i industriell stil. Väl lämpad för halvledarverkstäder och universitet laboratorier.
Optimerad för inspektion av chip och wafer; också allmänt använd för halvledartestning, metallografisk analys, materialforskning och kvalitetsutvärderingsarbete.
1080P foto- och videoinspelning, inbyggd exakt mätning på monitorn, U-disklagring. Digital bildbehandling förenklar filen arkivering, bildjämförelse och efteranalysarbete.
Kikarvisning plus synkron elektronisk observation:Okularvy och monitorvisning fungerar synkront. Vanliga metallurgiska mikroskop stöder endast okularobservation; extra kameratillbehör är krävs för skärmutmatning.
Stor scen och ultrahög förstoring:Maximal optisk förstoring når 800X; maximalt ren-digital elektronisk förstoring når 6080X. Överdimensionerad rörlig scen rymmer stordimensionella prover. Konventionella metallurgiska mikroskop är utrustade med små arbetssteg och erbjuder lägre elektroniska förstoring.
Direkt HDMI-utgång:Anslut direkt till bildskärmen via HDMI-kabel. Allmänna metallurgiska mikroskop kräver separata kameror och inspelningskort för bildutmatning.
Offlinemätning på monitor:Måttmätning kan utföras direkt på monitor utan PC-anslutning. Vanliga metallurgiska mikroskop förlitar sig uteslutande på mätning av PC-mjukvara.
Offline U-disklagring:Spara foton och videor på U-disk utan dator. Traditionella modeller måste ansluta till PC för att spara bilder.
Dedikerad metallurgisk optisk väg:Optimerad för metall-korn, beläggning och metallografisk materialanalys. Vanliga digitala mikroskop saknar denna specialiserade optiska väg och kan inte visualisera metallografiska strukturer.
Mekanik:Kraftig ram i helmetall för hög styvhet och antivibrationsprestanda. Precision koaxiell grovfinfokusering med lås- och begränsningsanordning, graderingsvärde för finrörelse: 0,7 μm. Storformat manuellt XY-steg med mjuk rörelse med låg slitage. Trinokulär optisk väg upprätthåller optisk saminriktning vid byte mål.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska mål. Reflekterad halogenlampa belysning med justerbar ljusstyrka.
Avbildning och mätning:2-megapixel 1080P HD CMOS-sensor, endast HDMI-utgång. Inbyggd firmware mätning körs på monitor. Förkalibrerad på fabrik; parametrar kvarstår efter avstängning; ingen daglig kalibrering krävs. Databesparing endast via kompatibel U-disk. PC-anslutning, USB-port och sekundära utvecklingsfunktioner är INTE stöds för GP-L500-300C.
Kvalitet och underhåll:Optisk kalibrering och prestandainspektion från fabriken. Besiktning rapporter och provmikrofotografier kan tillhandahållas på begäran. Ta inte isär optiska moduler. Vanligt dammtät rengöring förlänger livslängden.
Semiconductor Wafers & Chips (kärnapplikation):
Kiselskivor, litografiskivor, IC-chips, MOS-rör, PCB, FPC flexibla kretsar, förpackade lödfogar.
Inspektionsmål: interna mikrochipkretsar, waferbeläggningar, etsningsdefekter, förpackningsbubblor, kalllödning
joints, oxidation and pin deformation.
Metallografiska prover och skärande verktyg:
Metallografiska sektioner, legerat stål, borr, fräsar, precisionsstansade metalldelar.
Inspektionsmål: metall-kornstruktur, värmebehandling metallografisk analys, mikroytsprickor,
banbrytande flisning, grader, slitage och inre materialföroreningar.
Laboratorieprover: pulver, fiber och tunnfilm:
Metallpulver, kemiskt pulver, kolfiber, textilfiber, optiska beläggningsfilmer.
Observera partikelmorfologi, fibertextur, filmdelaminering och mikrobeläggningsstrukturer.
Optoelektroniska och precisionsplastkomponenter:
LED-chips, optiska linser, formsprutade delar, halvledarförpackningslim.
Upptäck mikroporer, ytfläckar, ojämna kanter, delaminering, bubblor och små kosmetiska skavanker.
Stora precisionsminiatyrkomponenter:
Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, stora stansade arbetsstycken, långdimensionella delar.
Extra stor rörlig scen rymmer överdimensionerade prover; noggrann mätning på pixelnivå för luckor, håldiametrar,
höjdskillnader och linjära dimensioner.
Academic Labs & Semiconductor-Factory QC:
Materialforskningsexperiment, fullständig inspektion av inkommande varor och färdiga varor för halvledare,
metallografisk provobservation; foto-/videoarkivering.
Utökad stor plattform möjliggör full observation av wafers, stora PCB och stora metallskivor utan prov skärning. Perfekt för inspektion av halvledarskivor, kretskort och stora hårdvarukomponenter.
Stegjusterbar förstoring: optisk 50x-800x; max digital förstoring upp till 6080X (ren digital zoom). Fångar arbetsstyckets övergripande utseende och ultrafina detaljer som spånkretsar, metallkorn, mikrorepor och beläggning porer. Idealisk för halvledar-Fo-testning.
Trinokulär synkron ljusbana möjliggör samtidig observation via binokulära okular och HDMI-monitor. Lämplig för Diskussion med FoU-team, dubbel kvalitetskontroll och universitetslaboratorieundervisning för att minska felbedömningar.
Enkel HDMI-utgång med inbyggd mätfunktion på monitorn. Spara 1080P foton och videor direkt på kompatibla U-skiva. Plug-and-play med enkel kabeldragning. Passar grundläggande inspektionsstationer i halvledarverkstäder och litet material laboratorier.
Tjock integrerad antivibrationskropp tillsammans med koaxiell manuell grovfinfokusering. Smidig fokusering utan bildförskjutning under långa timmars kontinuerlig inspektion. Lämplig för dagligt massinkommande test för wafers och kretsar brädor och långvarig statisk prov laboratorieanalys.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Punkt | Beskrivning |
| Produkt | GP-L500-300C Metallografiskt mikroskop av forskningskvalitet |
| Kategori | Industriell forskning-Grade Trinocular Metallurgical Inspection Microscope med stor plattform |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront betraktande optiskt system, rörligt provsteg med stort område, hög effekt metallurgisk objektivuppsättning, HD CMOS-bildsensor, inbyggd digital precisionsmätningsmodul, HDMI i realtid video output, U-disk lokal bildlagringsteknik |
| Nyckelspecifikationer | Visuell förstoring: 50/100/200/500/800×; Elektronisk förstoring: 380/760/1520/3800/6080× (6080X är ren digital zoom); Utgångsgränssnitt: Endast HDMI; Fånga upplösning: 1920*1080; Manuell fokusering; Inbyggd exakt mätfunktion, U-disklagring; Monitorterminal stöder HD-bildförhandsgranskning, fotoinsamling och video inspelning. |
| Typiska applikationer | Mikrostrukturinspektion av wafer och halvledarchip, observation av elektroniska komponenter i stor storlek, metall metallografisk kornanalys, förpackningskretsdetektion, PCB-tvärsnittsinspektion, nytt-energi-material testning, laboratorieforskning av avancerad material |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tillverkarens plats | Kunshan, Jiangsu, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L500-300C |
| Upplösning | 1920×1080 |
| Riktigt effektiva pixlar | 2 megapixlar |
| Fokuseringsmetod | Manuell fokusering |
| Optiskt format | 1/2" |
| Pixelstorlek | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Utdatametod | HDMI |
| Detaljerade funktionsintroduktioner som motsvarar varje utgångsgränssnitt | HDMI kan anslutas till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning och bildjämförelse, manövrerad av mus i realtid. |
| Bildhastighet | HDMI: 60 fps @1920*1080 |
| Djup-of-field-syntes | / |
| Bildsömnad | / |
| Mätmetod | Inbyggt mätsystem på monitorn |
| Mätnoggrannhet | 0,001 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disk lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1,3 GHz |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; mellan pupillinställningsområde: 53 mm-75 mm |
| Observationslägen | Ljusfält / sned belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem med endast reflekterat fallljus, 100-240V bredspänningsingång, justerbar glödtråd centrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Fotograferingsställ, koaxial grovfinfokuseringsmekanism i lågt läge, med låsning och
begränsande
anordningar; finrörelsegradueringsvärde: 0,7 μm. Halogen-lampa reflekterat ljus belysning. ② Ljusfält reflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och färgfilteromkopplingsenhet. ③ Gul, blå, grönt filter och frostat glasskiva medföljer för reflekterat ljus. |
| Mekanisk scen | ★Mekanisk rörlig scen. Scendimension: 280 mm × 270 mm; X-Y rörelse: 204 mm × 204 mm (8-tums rörelse). Glas preparatbärarplatta endast för observation av reflekterat ljus, lämplig för stora arbetsstycken. |
| Ljuskälla | 6V 30W halogenlampa kammare (endast reflekterat ljus) |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull typ polarisator och analysator installerad |
| Elektroniskt gränssnitt | CTV 1X kameragränssnitt med fast fokus; CTV 0.5X är tillval med prisskillnadskompensation. |
| Okular | Två WF10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med individuell dioptrijustering |
| Nosstycke | ★Mingchang femhåls objektiv nosstycke |
| Metallurgiska mål | ★ Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska mål ① PL L5X/0,12, arbetsavstånd: 26,1 mm × 1 st ② PL L10X/0,25, arbetsavstånd: 20,2 mm × 1 st ③ PL L20X/0,40, arbetsavstånd: 8,80 mm × 1 st ④ PL L50X/0,70, arbetsavstånd: 3,68 mm × 1 st ⑤ PL L80X/0,80, arbetsavstånd: 1,25 mm × 1 st |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (växlingsbar i fem nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (omkopplingsbar i fem nivåer); valfritt intervall: 190-3040X. |
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
Tianjin University of Commerce – Materiallaboratorieundervisning, mikrobildbehandling och experimentell dataarkivering
DOOV – Inspektion av montering av mobila enheter, test av skärm och komponentutseende
GREE Electric Appliances (Hefei) – Precisionsmått-mätning och defektinspektion för hushållsapparater
Lens Technology Co., Ltd. – Mikrofelsdetektering för glasskyddsplåtar och telefonskyddspaneler
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensionell och mikrodetektering för precisionsbearbetning delar
Dabo Medical – Mikromorfologisk analys för medicinska anordningar och biomaterial av implantattyp
A1: Endast HDMI-gränssnittet är utrustat för skärmvisning i realtid.
A2: Den stöder 1080P högupplöst foto- och videoinspelning. Filer kan sparas på FAT32-formaterad U-disk inom 32 GB kapacitet. Inbyggt mätverktyg på skärmen stöder dimensionsmärkning, datalagring och mätningsrapport export.
A3: Felsökning utan bild: Kontrollera strömförsörjningen, HDMI-kabeln och bildskärmens signalkälla och starta sedan om enheten. Felsökning av suddiga bilder: Justera handratten för manuell fokus, lås objektivlinsen, lägg provet plant och rengör objektivet ytan. U-diskigenkänningsfel: Byt ut eller formatera om U-disken (måste vara FAT32 och ≤32 GB).
A4: Lämplig för metallografisk observation, metall-materialanalys, pulvermetallurgitestning, precisions-elektronisk komponentinspektion, vetenskaplig forskning och undervisningsexperiment.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. grundades officiellt 2011. Vårt grundarteam ackumulerades erfarenhet av optisk teknik från 2005. Vi är en tillverkare av industriell inspektionsutrustning som tillhandahåller kompletta tjänster: oberoende optisk design, produkt-FoU, internationell försäljning och långsiktighet eftermarknadssupport för industriella mikroskop. Våra interna ingenjörsspecialister har över tio års yrkeserfarenhet för utveckling av optiska instrument, vilket säkerställer stabil teknisk prestanda och konsekvent produkttillförlitlighet.
GAOPIN levererar mer än hundra kategorier av optiska instrument till kunder över hela världen. Vi levererar flexibla, kostnadseffektiva skräddarsydda mikroskopilösningar för att tillfredsställa olika industriella tester och laboratorieforskning krav. Globala utländska köpare kan få snabb respons teknisk support inklusive online-videokonsultation, steg-för-steg handledning och fjärr-utrustning-träning. Vår fabrik ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen (nära Shanghai). På plats fabriksbesök och virtuella online-turer välkomnas. Vänligen kontakta oss för verklig provprovning bilder fångat av detta metallografiska mikroskop av forskningskvalitet för utvärdering av bildkvalitet.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
