GP-L500-324K är ett metallografiskt mikroskop av forskningskvalitet med 4K Ultra HD. Den stöder 5-stegs förstoring byta från 380× till 6080×. Den inbyggda extra stora rörliga scenen rymmer bekvämt stora prover. 4K Ultra HD metallurgiskt mikroskop av forskningskvalitet levererar 4K ultrahögupplösta bilder med skarpa mikrostrukturdetaljer. Den trinokulära porten stöder kamerainstallation och metallografisk-analys-mjukvara anslutning. Den är idealisk för metallurgiobservation av stora material, halvledare inspektion, PCB skivanalys och industrilaboratorie kvalitetskontrollarbete.
Detta 4K Ultra HD-forskningsklassade metallurgiska mikroskop är lämpligt för mikroskopisk observation av metallografiska mikrostrukturer och ytmorfologi. Det fungerar som ett idealiskt forskningsverktyg för metallurgi, mineralogi och precisionsteknik.
4K-kamera integrerad i trinokulärt hölje för samtidig visning via okular och extern monitor. Dubbelport utmatning via HDMI och Gigabit LAN överför ultra-HD mikrobilder i realtid.
Optisk förstoring 50-800×; maximal digital förstoring når 6080X (ren digital zoom) med fem-objektiv-lins set. Precisionsoptisk väg ger skarpa detaljer för mikroinspektion av chip och wafer.
Koaxialfokusrattar matchade med förstärkt linshylsa möjliggör stadig fokusering och minimerar bildskakning.
Extra stort rörligt provbord parat med tjock integrerad metallbas. Förblir stabilt för stora prover utan vingla under långtidsobservation.
Minimalistisk integrerad styv metallram i labbstil, perfekt lämpad för halvledarverkstäder, universitet laboratorier och QC-faciliteter.
Idealisk för chip-och-wafer-inspektion, halvledartestning, metallografisk analys, materialforskning, akademisk-undervisning och kvalitetsutvärderingsarbete.
4K-foto- och videoinspelning, dubbla mätlägen (inbyggd på skärmen + PC-programvara). Dubbellagring via U-disk & dator. Skärpedjupsyntes och bildsömnadsfunktioner körs uteslutande på stödjande PC-programvara. Sekundär-utveckling är stöds över LAN-port för bildarkivering, jämförelse och avancerad analys.
Kikarvisning plus synkron elektronisk observation:Okularvy och monitorvisning fungerar synkront. Vanliga metallurgiska mikroskop stöder endast okularobservation; extra kameratillbehör är krävs för skärmutmatning.
Stor scen, ultrahög förstoring och 4K-bilder:Maximal optisk förstoring når 800X; maximal ren-digital elektronisk förstoring når 6080X. Överdimensionerad rörlig scen rymmer stordimensionella prover med inbyggd 4K-utgång. Konventionella metallurgiska mikroskop använder små arbetssteg med lägre upplösning och begränsad förstoring.
Dubbla utgångsgränssnitt:HDMI + Gigabit-LAN-port. Vanliga metallurgiska mikroskop har enkelgränssnitt utan nätverksport för systemintegration.
Dubbla mätningslägen:Offline inbyggd mätning på monitor plus PC-mjukvara mätning. Vanliga metallurgiska mikroskop stödjer endast mjukvarumätning på PC-sidan.
Dubbla lagringslägen:Offline U-disklagring och PC-programvara, datalagring tillgänglig med-eller-utan ansluten-dator. Konventionella modeller kräver PC-anslutning för att spara bilder.
Sekundär utveckling som stöds:LAN-port möjliggör automatisk systemintegration. Allmänt metallurgiska mikroskop stöder inte sekundärutvecklingsförmåga.
Dedikerad metallurgisk optisk väg:Optimerad för metall-korn, beläggning och metallografisk materialanalys. Vanliga digitala mikroskop saknar denna specialiserade optiska väg och kan inte visualisera metallografiska strukturer.
Mekanik:Helmetallkonstruktion för hög styvhet och vibrationsmotstånd. Precision grovfinfokusering utan bakslag. Stort manuellt XY-steg med lågt slitage och minimalt spelrum. Trinokulär optisk väg upprätthåller optisk saminriktning vid byte av mål.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska objektiv med anti-im hård beläggning. Reflekterat ljus 6V-30W halogenlampa belysning.
Avbildning och mätning:8,3-megapixel 4K industriell CMOS-kamera. Dubbel utgång: HDMI + Gigabit-LAN port, bra anti-interferensprestanda för industriell miljöanvändning. Stöder inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvara mätning. Förkalibrerad på fabrik; parametrar kvarstår efter avstängning; ingen daglig kalibrering krävs. Dubbelvägslagring via U-disk och PC-mjukvara. Skärpedjupsyntes och bildsömnad är tillgängliga endast på PC-programvara. Sekundärt utvecklingsgränssnitt är tillgängligt via LAN-port.
Driftmiljö:Arbetstemperatur 10-35℃, relativ luftfuktighet 30-75%RH. Stabil under ordinarie fabrikens elektromagnetiska miljö. Undvik kraftiga vibrationer, frätande gaser och kraftigt damm.
Kvalitet och underhåll:Fullständig fabriksinspektion. Ta inte isär optiska moduler. Vanligt dammsäker rengöring förlänger livslängden.
Semiconductor Wafers & Chips (kärnapplikation):
Kiselskivor, litografiskivor, IC-chips, MOS-rör, PCB, FPC flexibla kretsar, förpackade lödfogar.
Inspektionsmål: interna mikrochipkretsar, waferbeläggningar, etsningsdefekter, förpackningsbubblor, kalllödning
leder, oxidation och stiftdeformation.
Metallografiska prover och skärande verktyg:
Metallografiska sektioner, legerat stål, borr, fräsar, precisionsstansade metalldelar.
Inspektionsmål: metall-kornstruktur, värmebehandling metallografisk analys, mikroytsprickor,
banbrytande flisning, grader, slitage och inre materialföroreningar.
Laboratorieprover: pulver, fiber och tunnfilm:
Metallpulver, kemiskt pulver, kolfiber, textilfiber, optiska beläggningsfilmer.
Observera partikelmorfologi, fibertextur, filmdelaminering och mikrobeläggningsstrukturer.
Optoelektroniska och precisionsplastkomponenter:
LED-chips, optiska linser, formsprutade delar, halvledarförpackningslim.
Upptäck mikroporer, ytfläckar, ojämna kanter, delaminering, bubblor och små kosmetiska skavanker.
Stora precisionsminiatyrkomponenter:
Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, storstansade arbetsstycken, långdimensionella delar.
Extra stor rörlig scen rymmer överdimensionerade prover; Noggrann mätning på 4K-pixelnivå för luckor, hål
diametrar, höjdskillnader och linjära mått.
Academic Labs & Semiconductor-Factory QC:
Materialforskningsexperiment, fullständig inspektion av inkommande varor och färdiga varor för halvledare,
metallografisk provobservation; foto-/videoarkivering, anslut till PC för att exportera professionell mätning
QC-rapporter.
Utökad stor plattform möjliggör full observation av wafers, stora PCB och stora metallskivor utan provskärning. Perfekt för halvledare-wafer, kretskort och stor hårdvarukomponent-inspektion.
Stegjusterbar förstoring: optisk 50x-800x; max digital förstoring upp till 6080X (ren digital zoom). Fångar arbetsstyckets övergripande utseende och ultrafina detaljer som spånkretsar, metallkorn, mikrorepor och beläggning-porer. Idealisk för halvledar-R&D-testning.
Trinokulär synkron optisk väg möjliggör samtidig observation via binokulära okular och HDMI-monitor. Lämplig för FoU-team-diskussion, dubbel-QC-omkontroll och universitet-laboratorie-undervisning för att minska felbedömningar.
Enkel HDMI-utgång med inbyggd mätfunktion på monitorn. 4K-foton och videor kan sparas direkt på kompatibel U-disk. Plug-and-play installation passar grundläggande inspektionsstationer i halvledarverkstäder och små-material-laboratorier.
Tjock integrerad antivibrationskropp tillsammans med manuell grovfinfokusering. Smidig fokuseringsprestanda utan bildförskjutning under långa timmars kontinuerlig inspektion. Hållbar för daglig massa inkommande test för wafers & kretskort och långsiktig statisk-prov-laboratorieanalys.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Punkt | Beskrivning |
| Produkt | GP-L500-324K Metallografiskt mikroskop av forskningskvalitet med 4K Ultra HD |
| Kategori | Industriell forskning, storplattform 4K trinokulär metallurgisk inspektion och mätning Mikroskop |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront betraktande optiskt system, rörligt prov med stort område, hög effekt metallurgisk objektivuppsättning, 4K ultra-HD CMOS-bildsensor, dubbla mätsystem (inbyggd på bildskärmen mätning + PC-mjukvara mätning), HDMI+Gigabit-LAN dubbelkanals signalöverföring, dubbellagringsteknik, öppen arkitektur som stödjer dockning för sekundär utveckling |
| Nyckelspecifikationer | Visuell förstoring: 50/100/200/500/800×; Elektronisk förstoring: 380/760/1520/3800/6080× (6080X är ren digital zoom); Dubbla utgångsgränssnitt: HDMI + Gigabit-LAN-port; 4K-upplösning: 3840×2160; Manuell fokusering endast; Dubbla mätningslägen: inbyggd exakt mätning + dedikerad PC-mjukvara mätning; Dubbel lagring lägen: U-disk lokal lagring + PC-programvara lagring; Monitorterminal stöder dimensionsmätning, HD bild förhandsgranskning, foto- och filarkivering; PC-terminalen stöder dimensionsmätning och bildbesparing; Hel enhet stöder sekundärutvecklingsintegration via LAN. |
| Typiska applikationer | Halvledare-skiva-och-chip-mikrostrukturinspektion, observation av elektroniska komponenter i stor storlek, metall metallografisk-kornstrukturanalys, förpackningskretsdetektion, PCB-tvärsnittsinspektion, ny-energi-material kvalitetstestning, universitetsavancerad-material-laboratorieforskning |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tillverkarens plats | Kunshan, Jiangsu, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L500-324K |
| Upplösning | 3840×2160 |
| Riktigt effektiva pixlar | 8,3 megapixlar |
| Fokuseringsmetod | Endast manuell fokus |
| Optiskt format | 1/1,7" |
| Pixelstorlek | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Utdatametod | HDMI + Gigabit LAN Ethernet-port |
| Detaljerade funktionsintroduktioner som motsvarar varje utgångsgränssnitt | ① HDMI ansluts till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd
fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning och bildjämförelse, manövrerad
av
mus i realtid. ② Gigabit LAN-port ansluter till routrar, switchar eller datorer för nätverksbild överföring. Datorer inom samma nätverkssegment kan ta emot video i realtid och utlösa infångning via matchande programvara. |
| Bildhastighet | HDMI: 60fps @3840×2160 Gigabit LAN: 20fps @1920×1080 |
| Djup-of-field-syntes | / |
| Bildsömnad | / |
| Mätmetod | Inbyggt on-monitor mätsystem + PC-mjukvara mätning |
| Mätnoggrannhet | 0,001 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disklagring + PC-mjukvara lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz huvudkontrollprocessor |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; mellan pupillinställningsområde: 53 mm-75 mm |
| Observationslägen | Ljusfält / sned belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem med endast reflekterat fallljus, 100-240V bredspänningsingång, justerbar glödtråd centrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Fotograferingsställ, koaxial grovfinfokuseringsmekanism i lågt läge, med låsning och
begränsande
anordningar; finrörelsegradueringsvärde: 0,7 μm. Halogen-lampa reflekterat ljus belysning. ② Ljusfält reflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och färgfilteromkopplingsenhet. ③ Gul, blå, grönt filter och frostat glasskiva medföljer för reflekterat ljus. |
| Mekanisk scen | ★Mekanisk rörlig scen. Scendimension: 280 mm × 270 mm; X-Y rörelse: 204 mm × 204 mm (8-tums rörelse). Glas preparatbärarplatta endast för observation av reflekterat ljus, lämplig för stora arbetsstycken. |
| Ljuskälla | 6V 30W halogenlampa kammare (endast reflekterat ljus) |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull typ polarisator och analysator installerad |
| Elektroniskt gränssnitt | CTV 1X kameragränssnitt med fast fokus; CTV 0.5X är tillval med prisskillnadskompensation. |
| Okular | Två WF10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med individuell dioptrijustering |
| Nosstycke | ★Mingchang femhåls objektiv nosstycke |
| Metallurgiska mål | ★ Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska mål ① PL L5X/0,12, arbetsavstånd: 26,1 mm × 1 st ② PL L10X/0,25, arbetsavstånd: 20,2 mm × 1 st ③ PL L20X/0,40, arbetsavstånd: 8,80 mm × 1 st ④ PL L50X/0,70, arbetsavstånd: 3,68 mm × 1 st ⑤ PL L80X/0,80, arbetsavstånd: 1,25 mm × 1 st |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (växlingsbar i fem nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (omkopplingsbar i fem nivåer); valfritt intervall: 190-3040X. |
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
Tsinghua University – Undervisning, laboratorieavbildning och experimentell dataarkivering
Fudan University – Mikro-nano-material och biomedicinsk mikroskopisk-observations-forskning
Dabo Medical – Mikromorfologi-analys för medicinska anordningar och biomaterial av implantattyp
Tianjin University of Commerce – Material-laboratorie-undervisning, mikrobildbehandling och experimentell-data-arkivering
Xi'an Jiaotong University – Avancerad-materialvetenskap och precisionsoptik experimentell-observation
GREE Electric Appliances (Hefei) – Precisionsmått-mätning och defektkontroll för hushållsapparater-delar
A1: Utrustad med HDMI + Gigabit-LAN-port. Den stöder direktskärmsskärm och nätverksanslutning med dator.
A2: Den stöder 4K ultra-HD foto- och videoinspelning. Filer kan sparas på FAT32-formaterad U-disk inom 32 GB kapacitet. Stöder mätning både på skärmen och PC-mjukvara, med funktioner för datasparande och rapportexport.
A3: Felsökning utan bild: Kontrollera strömförsörjningen, HDMI-kabeln och bildskärmens signalkälla och starta sedan om enheten. Felsökning av suddiga bilder: Justera handratten med manuell fokusering, lägg provet plant och ren linsens yta. Nätverksfel felsökning: Ställ in PC och enhet inom samma IP-segment, stäng av brandväggen och anslut nätverkskabeln igen. U-disk-fel felsökning: Byt ut eller formatera om U-disken (måste vara FAT32 och ≤32 GB).
S4: Sekundärutveckling stöds via LAN-port. Används ofta för metallografisk analys, metallmaterial testning, pulvermetallurgi, halvledarinspektion, precisionskomponentinspektion, vetenskaplig forskning och undervisningsexperiment.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. grundades formellt 2011. Vårt grundande-ledarskap samlades optisk-inspektionsutrustning-industrierfarenhet med start 2005. Vi levererar helhetslösningar som omfattar optisk-system-design, oberoende-FoU, världsomspännande-produktdistribution och långsiktigt-efter-försäljnings-underhåll- tjänster. Vår dedikerade kärntekniker-personal har mer än tio års praktisk utvecklingserfarenhet inom optiska instrument, vilket säkerställer stabil beprövad teknik och pålitlig kvalitet.
GAOPIN har ett brett produktsortiment bestående av över 100 olika optiska inspektionsinstrument, som tjänar industri- och laboratoriekunder på internationella marknader. Vi fokuserar mycket på att utveckla skräddarsydda, kostnadseffektiva-mikroskopi-lösningar för att tillfredsställa unika-inspektions-krav från olika branscher.
För utländska partners erbjuder vi snabb-global-teknisk assistans inklusive online-videokonferenser, steg-för-steg-operativ-video-vägledning och live-fjärr-användarutbildning. Vår tillverkningsbas ligger i Kunshan, Jiangsu Provinsen, med bekväma transportlänkar till Shanghai. På plats-fabriksinspektioner och virtuella-online-turer är välkomnas. Vänligen kontakta vårt säljteam för autentiska-prov-test-foton tagna av denna metallografiska forskningskvalitet mikroskop med 4K Ultra HD för att utvärdera verklig bildprestanda.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
