Metallografiskt mikroskop av forskningskvalitet med 4K Ultra HD & Autofokus Large-Stage 4K metallurgiskt mikroskop. 4K Autofokus Research-Grade Metallurgical Microscope antar 5-stegs förstoringsjustering, med förstoring från 380× till 6080×. Den extra stora rörliga scenen kan håll stora prover. Ultratydliga 4K-bilder ger skarpa och känsliga mikrostrukturdetaljer. Den trinokulära porten kan vara ansluten till kameror och metallografisk analysmjukvara, väl lämpad för observation av stora metaller, halvledare inspektion, PCB skiva analys, vetenskaplig forskning och kvalitetskontroll.
Detta instrument är lämpligt för mikroskopisk observation av metallografiska mikrostrukturer och ytmorfologi. Det fungerar som ett idealiskt forskningsverktyg för metallurgi, mineralogi och precisionsteknik.
4K-kamera inbyggt trinokulärt hölje för samtidig visning via okular och extern monitor. Flerportar utgång via HDMI, USB3.0 och WIFI överför ultra-HD mikrobilder i realtid.
Optisk förstoring 50-800×; max ren-digital förstoring når 6080X med fem-objektiv-objektiv. Precision optisk väg ger skarpa detaljer för mikroinspektion av chip och wafer.
Inbyggd hårdvaruautofokusmodul möjliggör mjuk, vibrationsfri fokusering och ökar effektiviteten för massprov testning; Manuellt fokusläge är också tillgängligt.
Extra stort rörligt provbord parat med tjock integrerad metallbas. Förblir stabilt för stora prover utan vingla under långtidsobservation.
Minimalistisk integrerad styv metallram i labbstil, perfekt lämpad för halvledarverkstäder, universitet laboratorier och QC-faciliteter.
Idealisk för inspektion av chip och wafer; också allmänt använd för halvledartestning, metallografisk analys, materialforskning och kvalitetsutvärderingsarbete.
Stöder 4K-foto- och videoinspelning, dubbla mätlägen (inbyggd på skärmen + PC-programvara). Dubbel lagring via U-skiva & dator. Skärpedjupsyntes fungerar både på monitor och PC-mjukvara; funktionen för sammanfogning av bilder är endast tillgänglig in PC-mjukvara. Sekundärutveckling stöds för bildarkivering, jämförelse och avancerad analys.
Provstadium:GP-L500-462H antar rörlig scen i stor storlek för storformatschips/wafers med brett reseutbud. Vanliga metallurgiska mikroskop är utrustade med liten scen endast för små prover och kräver frekvent omplacering av provet.
Förstoringsområde:380-6080X femväxlad högförstoring, som ger skarpa detaljer för små inspektion av spånkretsar. Vanliga metallurgiska mikroskop har färre förstoringsväxlar och lägre maximum förstoring, vilket resulterar i suddiga bilder under hög effekt.
Avbildning och mätning:Inbyggd 4K-kamera av forskningskvalitet, inbyggd mätning på monitorn, foto-video lagringsfunktion. Vanliga metallurgiska mikroskop använder lågupplöst 2K-kamera utan ombord mätning, PC-mjukvara är obligatorisk för analysarbete.
Tillämpningsomfång:Optimerad för wafers, halvledare och elektroniska delar med stor precision inspektion. Vanliga metallurgiska mikroskop är endast lämpliga för små metallskivor och fungerar dåligt för stora chip-exemplar.
Mekanik:Helmetallkonstruktion för hög styvhet och vibrationsmotstånd. Maskinvara autofokus modul utrustad. Exakt grovfinfokusering utan bakslag. Stort manuellt XY-steg med lågt slitage och minimalt spelrum. Trinokulär optisk bana bibehåller optisk saminriktning vid byte av objektiv.
Optik:Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska objektiv med anti-im hård beläggning. Reflekterat ljus 6V-30W halogenlampa belysning.
Avbildning och mätning:8,3 megapixel 4K CMOS-kamera av industriell kvalitet. Gränssnitt för flera utgångar: HDMI + USB3.0 + WIFI, med utmärkt anti-interferensprestanda för industriella miljöapplikationer. Stöder både inbyggd skärmmätning och PC-mjukvarubaserad mätning. Dubbelvägslagring: USB-minne och PC-programvara. Skärpedjup staplingsfunktion är tillgänglig på skärmen och via PC-programvara; bildsömnaden Funktionen stöds endast av PC-programvara. Sekundärt utvecklingsgränssnitt är tillgängligt via USB3.0 / WIFI.
Driftmiljö:Arbetstemperatur 10-35℃, relativ luftfuktighet 30-75%RH. Stabil under ordinarie fabrikens elektromagnetiska miljö. Undvik kraftiga vibrationer, frätande gaser och kraftigt damm. Håll WIFI-modulen borta från starka signalstörningskällor.
Kvalitet och underhåll:Fullständig fabriksinspektion. Ta inte isär optiska moduler eller autofokusmodul. Regelbunden dammsäker rengöring förlänger livslängden.
Semiconductor Wafers & Chips (kärnapplikation):
Kiselskivor, litografiskivor, IC-chips, MOS-rör, PCB, FPC flexibla kretsar, förpackade lödfogar.
Inspektionsmål: interna mikrochipkretsar, waferbeläggningar, etsningsdefekter, förpackningsbubblor, kalllödning
leder, oxidation och stiftdeformation.
Metallografiska prover och metallskärningskomponenter:
Metallografiska sektioner, legerat stål, precisionsstansade metalldelar.
Inspektionsmål: metallkornstruktur, metallografisk analys av värmebehandling, sprickor på mikroytan,
banbrytande flisning, grader, slitage och inre materialföroreningar.
Laboratorieprover: pulver, fiber och tunnfilm:
Metallpulver, kemiskt pulver, kolfiber, textilfiber, optiska beläggningsfilmer.
Observera partikelmorfologi, fibertextur, filmdelaminering och mikrobeläggningsstrukturer.
Optoelektroniska och precisionsplastkomponenter:
LED-chips, optiska linser, formsprutade delar, halvledarförpackningslim.
Upptäck mikroporer, ytfläckar, ojämna kanter, delaminering, bubblor och små kosmetiska skavanker.
Stora precisionsminiatyrkomponenter:
Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, storstansade arbetsstycken, långdimensionella delar.
Extra stor rörlig scen rymmer överdimensionerade prover; Noggrann mätning på 4K-pixelnivå för luckor, hål
diametrar, höjdskillnader och linjära mått.
Academic Labs & Semiconductor Factory QC:
Materialforskningsexperiment, fullständig inspektion av inkommande varor och färdiga varor för halvledare,
metallografisk provobservation; foto-/videoarkivering, anslut till PC för att exportera professionell mätning QC
rapporterar.
Den här enheten har inbyggd 3840*2160 4K-bildbehandling. Den är lämplig för exakt inspektion av halvledare, PCB och materialskivor samt test-rapportexport, som tydligt avslöjar små texturer och mikrodefekter.
Maskinvara autofokus utrustad. Passar massproduktionsinspektion och frekvent provbyte. Uppnår snabbt fokusering efter provrörelse utan upprepad manuell justering.
Stor rörlig scen och vertikal trinokulär metallurgisk optisk väg är designad för stora wafers i full storlek PCB och metallprover som effektivt dämpar reflekterande bländning.
Dubbelt förstoringsområde: 50-800X optisk förstoring, 380-6080X digital förstoring. Täcker båda övergripande exemplar observation och inspektion av mikrokorn/mikrodefekter.
Stöder inbyggd mätning på enheten och mätning av PC-programvara. Utrustad med HDMI, USB3.0 och WIFI-utgång hamnar. Foton, videor och mätdata kan sparas via U-disk eller dator. Sekundär-utveckling stöds för produktionslinjeintegration och labb-data-spårbarhet.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Punkt | Beskrivning |
| Produkt | GP-L500-462H Metallografiskt mikroskop av forskningskvalitet med 4K Ultra HD och autofokus |
| Kategori | Industriell forskning, stor plattform 4K autofokus metallurgisk inspektion och mätning Mikroskop |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront betraktande optiskt system, rörligt prov med stort område, hög effekt metallurgisk objektivuppsättning, 4K ultra-HD CMOS-bildsensor, hårdvaruautofokusmodul, trippelkanal överföring (HDMI+USB3.0+WIFI), system med dubbla mätningar, syntes av skärpedjup och algoritm för sammanfogning av bilder, öppen arkitektur som stödjer sekundär utveckling |
| Nyckelspecifikationer | Visuell förstoring: 50/100/200/500/800×; Elektronisk förstoring: 380/760/1520/3800/6080× (6080X är ren digital zoom); Trippelutgångsportar: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-upplösning: 3840×2160; Hårdvara autofokus utrustad; Dubbla mätlägen: inbyggd exakt mätning + dedikerad PC-mjukvara mätning; Dubbla lagringslägen: U-disk lokal lagring + PC-programvara lagring; Monitorterminal stöder dimensionell mätning, förhandsgranskning av HD-bilder, foto-videoinspelning, syntes av skärpedjup; PC-terminal stöder dimensionsmätning, fillagring, skärpedjupsyntes och bildsömnad; Stöd för hela enheten integration i sekundär utveckling. |
| Typiska applikationer | Halvledare-skiva-och-chip-mikrostrukturinspektion, observation av elektroniska komponenter i stor storlek, metall metallografisk-kornstrukturanalys, förpackningskretsdetektion, PCB-tvärsnittsinspektion, precision-elektronisk-komponent-felanalys, ny-energi-material kvalitetstestning, universitets-avancerad-material-laboratorieforskning |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tillverkarens plats | Kunshan, Jiangsu, Kina (intill Shanghai) |
| Modell | GP-L500-462H |
| Upplösning | 3840×2160 |
| Riktigt effektiva pixlar | 8,3 megapixlar |
| Fokuseringsmetod | autofokus |
| Optiskt format | 1/1,8" |
| Pixelstorlek | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Utdatametod | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Detaljerade funktionsintroduktioner som motsvarar varje utgångsgränssnitt | ① HDMI ansluts till 4K-kompatibla skärmar. Inbäddad professionell bildbehandlingsfirmware-stöd
hårdvarudriven autofokus, fotoinspelning, videoinspelning, dimensionsmätning, bilduppspelning
och
bildjämförelse, styrd av mus i realtid. ② USB 3.0 ansluts till dator, medföljer högkvalitativ professionell bildbehandlingsprogramvara för fotoinsamling, dimensionsmätning, skärpedjupsfusion och bildsömnad. ③ WIFI-modul ansluts till bärbara datorer eller mobila enheter; i realtid bildöverföring, fotografering och lagring via matchande mjukvara. |
| Bildhastighet | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30 fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Djup-of-field-syntes | Stöds av både HDMI on-monitor firmware och PC-mjukvara |
| Bildsömnad | Stöds endast på PC-programvaran |
| Mätmetod | Inbyggt on-monitor mätsystem + PC-mjukvara mätning |
| Mätnoggrannhet | 0,002-0,005 mm |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4 omkopplingsbara enheter) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning lägga till, automatisk kantdetektering, skalningsfält med mera |
| Förvaringsmetod | U-disklagring + PC-mjukvara lagring |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz huvudkontrollprocessor |
| Operativsystem | Oberoende utvecklad mätfirmware baserad på Linux 3.1 kärna |
| Namngivning av bild | Automatisk eller manuell namngivning tillgänglig |
| Betraktningshuvud | 30°-lutande trinokulärt huvud av gångjärnstyp; mellan pupillinställningsområde: 53 mm-75 mm |
| Observationslägen | Ljusfält / sned belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem med endast reflekterat fallljus, 100-240V bredspänningsingång, justerbar glödtråd centrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet. |
| Stå | ① Fotograferingsställ, koaxial grovfinfokuseringsmekanism i lågt läge, med låsning och
begränsande
anordningar; finrörelsegradueringsvärde: 0,7 μm. Halogen-lampa reflekterat ljus belysning. ② Ljusfält reflektor med variabelt bländarstopp, fältstopp och färgfilteromkopplingsenhet. ③ Gul, blå, grönt filter och frostat glasskiva medföljer för reflekterat ljus. |
| Mekanisk scen | ★Mekanisk rörlig scen. Scendimension: 280 mm × 270 mm; X-Y rörelse: 204 mm × 204 mm (8-tums rörelse). Glas preparatbärarplatta endast för observation av reflekterat ljus, lämplig för stora arbetsstycken. |
| Ljuskälla | 6V 30W halogenlampa kammare (endast reflekterat ljus) |
| Enkel polarisering | Pull-push polarisator och polarisator |
| Elektroniskt gränssnitt | CTV 1X kameragränssnitt med fast fokus; CTV 0.5X är tillval med prisskillnadskompensation. |
| Okular | Två WF10X/22 mm vidvinkelplanfältsokular med individuell dioptrijustering |
| Nosstycke | ★Mingchang femhåls objektiv nosstycke |
| Metallurgiska mål | ★ Oändlighetskorrigerade planakromatiska metallurgiska mål ① PL L5X/0,12, arbetsavstånd: 26,1 mm × 1 st ② PL L10X/0,25, arbetsavstånd: 20,2 mm × 1 st ③ PL L20X/0,40, arbetsavstånd: 8,80 mm × 1 st ④ PL L50X/0,70, arbetsavstånd: 3,68 mm × 1 st ⑤ PL L80X/0,80, arbetsavstånd: 1,25 mm × 1 st |
| Optisk förstoring | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (växlingsbar i fem nivåer) |
| Elektronisk förstoring | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (omkopplingsbar i fem nivåer); valfritt intervall: 190-3040X. |
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalys av oorganisk keramik och nya energimaterial
Forskningsinstitutet för fysikalisk och kemiteknik för kärnkraftsindustrin – mikromorfologisk observation & precisionskomponentanalys för specialmaterial
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avancerad-optisk-forskning och optisk komponent karaktärisering
Tsinghua University – Undervisning, laboratorieavbildning och experimentell dataarkivering
Beijing Institute of Technology – Vetenskaplig forskningsanalys för militära material och optoelektroniska enheter
DOOV – Mobil-enhet-montering-inspektion, skärm- och komponent-utseende-testning
A1: Utrustad med HDMI, USB3.0 och WIFI-gränssnitt. Den stöder direktskärmsskärm och trådbunden/trådlös PC anslutning.
A2: Den stöder 4K ultra-HD foto- och videoinspelning. Filer kan sparas på FAT32-formaterad U-disk inom 32 GB kapacitet eller datorlagring. Stöder precisionsmätning på både skärm och PC-programvara, med datasparande och rapport-exportfunktioner.
A3: Den stöder maskinvaruautofokus, syntes av skärpedjup, bildsömnad på PC-sidan och sekundärutveckling. Används allmänt för metallografisk analys, halvledarinspektion, precision-komponentinspektion, vetenskaplig forskning, undervisning och avancerad industriell precisionsdetektion.
A4: Felsökning utan bild: Kontrollera strömförsörjningen, HDMI-kabeln och bildskärmens signalkälla, starta sedan om enheten. Felsökning av suddiga bilder: Justera handratten med manuell fokusering, lägg provet plant och ren linsens yta. Nätverksfel felsökning: Ställ in PC och enhet inom samma IP-segment, stäng av brandväggen och anslut nätverkskabeln igen. U-disk-fel felsökning: Byt ut eller formatera om U-disken (måste vara FAT32 och ≤32 GB).
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. bildades officiellt 2011. Våra grundare ackumulerades praktisk kunskap om optiska instrument från och med 2005. Vi levererar full-cykelstöd som täcker anpassad optisk design, intern-FoU, internationell försäljning och omfattande-efter-marknads-underhållstjänster. Vår skickligt ingenjörsteam besitter mer än tio års mikroskopi-utveckling-expertis, vilket säkerställer stabila-tekniska prestanda och konsekvent produkttillförlitlighet.
GAOPIN levererar mer än 100 kategorier av optiska testinstrument, som betjänar industri- och laboratoriekunder runt om i världen. Vi fokuserar på att leverera flexibla, kostnadseffektiva skräddarsydda mikroskopi-inspektionslösningar till tillfredsställa olika-testnings-krav.
För utländska köpare tillhandahåller vi lyhörd världsomspännande teknisk support inklusive fjärrkonsultationer online, praktisk-video-tutorials och live-fjärrutrustning-drift-träning. Vår produktionsanläggning ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen, med bekväm transport-tillgång till Shanghai. På plats-fabriksbesök och virtuella-online-turer är välkomnas. Vänligen kontakta vårt säljteam för autentiska-prov-test-foton tagna med denna forskningsklass metallografiskt mikroskop med 4K Ultra HD och autofokus för att utvärdera verklig bildprestanda.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
