Detta högförstorade metallurgiska mikroskop med autofokus är byggt för detaljerad materialprovsgranskning och är ett kapabelt metallografiskt mikroskop med hög förstoring med Autofokus. Den möjliggör observation med dubbla vyer genom kikare okular och extern display. USB-port kompatibel trådlös adapter stöder trådlös dataöverföring. Utrustad med ljusfälts- och mörkfältslägen och jämnt koaxiell belysning avslöjar den mikrodefekter som korn, beläggningar och sprickor skarpt. Den integrerar bild ögonblicksbild och mätningsanalysfunktioner. Antivibrationsstabilt chassi säkerställer konsekvent bildprestanda, medan uppgraderingsfärdig modullayout sänker kostnaderna för senare uppdateringar.
4K-kamera integrerad med trinokulärt metallurgiskt stativ, förverkligar samtidig okular- och skärmvisning. Multi-utgång portar inklusive HDMI, USB3.0 och WiFi för ultra-HD mikrobildfångst i realtid.
Optisk förstoring 50-500 ×, maximal digital förstoring 2000 ×. Precision optisk väg med professionell metallurgiska mål ger skarp avbildning av mikrometallstrukturer och kornstrukturer.
Inbyggd autofokusmodul möjliggör snabb, stadig fokusering utan manuell manövrering, minskar bildskakningar och kraftigt ökar inspektionseffektivitet för ojämna metallografiska prover.
Bas i ett stycke av gjuten aluminium håller enheten välbalanserad, fri från vingling eller skiftning under långvarig skivinspektion och materialobservationsarbete.
Klassisk vit-blå kropp i researchstil med standard trinokulär metallurgisk layout, ren och minimalistisk för laboratorier och kvalitetskontrollverkstäder.
Lämplig för metall-metallografisk analys, halvledar-wafer-inspektion, material-fel-analys, universitet-undervisning-forskning och komponent-kvalitet-testning uppgifter.
Stöder 4K (3840 × 2160) foto- och videoinspelning. Inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvarubaserad mätning tillgänglig; dubbel lagring via USB-minne och dator. Stöder skärpedjupstapling, bildsömnad och sekundär utveckling för bekväm bildarkivering, jämförelse och djupgående dataanalys.
Kikare och synkron elektronisk observation:Synkroniserad visning mellan okular och övervaka. Vanliga metallurgiska mikroskop stöder endast visning av okularet; extra kameratillbehör behövs för skärmutgång.
4K ultrahögupplöst bildbehandling + autofokus:Native 4K-upplösning plus hårdvaruautofokus för exemplar med ojämn yta. Vanliga metallurgiska enheter är helt beroende av manuell fokusering med lägre bildupplösning.
Trippelutgångsgränssnitt:HDMI + USB3.0 + trådlös trådlös överföring. Traditionell metallurgisk enheter ansluter vanligtvis endast till PC utan funktion för trådlös överföring.
Dubbla mätningslägen:Offline inbyggd mätning på monitor plus PC-mjukvarubaserad mätning. Vanliga metallurgiska mikroskop stödjer endast mätning på PC-sidan utan hårdvaruinbäddad mätfunktion.
Dubbla lagringslägen:Offline USB-flash-enhet lagring och PC-programvara lagring; tillgänglig databesparing med eller utan dator. Konventionella modeller kräver PC för bildlagring.
Avancerad bildbehandlingsalgoritm:Inbyggd skärpedjupstapling och bildsömnad för ojämn höjd metallografiska prover. Allmänna metallurgiska mikroskop saknar sådana inbäddade algoritm-funktioner.
Sekundär utveckling som stöds:Nätverksanpassat system möjliggör automation-produktionslinje integration. Allmänna metallurgiska mikroskop stöder inte sekundärutvecklingsintegration.
Dedikerad metallurgisk optisk väg:Optimerad för metall-korn, beläggning och material-metallografisk-analys. Vanliga digitala mikroskop saknar dedikerad optisk väg och kan inte observera bra metallurgiska-mikro-strukturer.
Integrerad med en inbyggd 3840 × 2160 4K-bildsensor och kalibrerad med standard metallurgiska-upplösningsmallar, utrustningen uppnår enhetlig skärpa i hela fältet. Det möjliggör tydlig identifiering av mikroskopiska egenskaper inklusive metalliska korngränser, pläteringsdelaminering, ytmikrosprickor och materialmetallurgiska vävnader utan perifer defokusering.
Antagande av högkvalitativa akromatiska metallurgiska mål för högeffektiv mikroskopisk observation och analys. Den uppgraderat trinokulärt optiskt rör realiserar synkron optisk visning och digital bildframställning, fullt tillämplig för metallisk-mikrostruktur-forskning, beläggning-tjocklek-inspektion, spannmålskvalitetsgradering och scenarier för industriell kvalitetskontroll.
Det dedikerade metallurgiska mätsystemet ger realtid på skärmen-parameter-överlagring och multidimensionell dataanalys. Den mäter exakt kritiska metallurgiska parametrar som filmtjocklek, korndimension, sprickbredd och stratifieringsgap och stöder omedelbar annotering, provbildslagring och inspektion-data-export. Kompatibel med funktioner för stapling av skärpedjup och bildhäftning.
Dubbelvägs transmitterad och reflekterad belysning garanterar kvalificerad belysning för olika exemplartyper. Den precision XY-axel mekaniskt steg ger mjuka rörelser och snabb målpositionering. Den stela helmetallchassi ger utmärkt antivibrationsprestanda, vilket säkerställer stabil och pålitlig drift under långvarig professionell-metallurgisk-testning.
Halvledare och elektroniska komponenter:IC-chips, kiselskivor, fotolitografiskivor, PCB brädor, FPC flexibla skivor, lödfogar, stift. Inspektionsmål: Observera interna chip-kretsar, wafer-beläggningar, kalllödningsdefekter, oxidation, kretsrepor och stiftdeformation; analysera mikroskivstrukturer under max 2000 × förstoring.
Metallmaterial och metallografiska prover:Metallografiska skivor, borr, fräsar, hårdvara av stämplad metall. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstruktur-analys, värmebehandling-material-identifiering; upptäcka kantflisning, mikrosprickor, grader och nötningsdjup.
LED optoelektroniska och plastgjutna delar:LED-chips, optiska plastdelar, injektion & stansning produkter. Inspektionsmål: Inspektera små skåror, ytfläckar, ojämna kanter, mikrofrämmande partiklar, lim-delaminering och tätning-mikro-defekter.
Högprecisions miniatyrkomponenter:Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, små stansade arbetsstycken. Inspektionsmål: Observera små luckor och krimpplanhet; utföra exakt längdmätning på pixelnivå, håldiameter och stigning.
Laboratorie- och industriell QC-arkivering:Metallografisk-skiva-experiment-analys, inkommande-&-färdiga-varor provtagning-inspektion; foto-&-video-arkivering för defekta-bevis-poster och export av QC-rapporter för formella mätningar.
Optisk förstoring sträcker sig 50 ×-500 ×, max digital förstoring upp till 2000 ×. Inbyggd autofokus eliminerar upprepad manuell fokusering för ojämna prover. Native 4K 3840 × 2160 upplösning fångar tydligt metallografiska texturer, wafer-beläggningar och mikrochip-spår, vilket avsevärt ökar laboratorieinspektionens effektivitet för bulkprover.
Trippelutgångsportar: HDMI, USB3.0 och WiFi. HDMI-anslutningar-monitor för visning på plats; USB3.0 möjliggör höghastighets-PC- analys; WiFi-trådlös casting till telefoner och surfplattor för kabelfri-fjärrobservation, lämplig för punktsampling och grupp-undervisning-diskussion.
Två-mätningslösningar: inbyggd on-monitor-mätning och PC-mjukvarubaserad mätning. Utrustad med skärpedjupstapling och bildsömnad för att producera fullt fokuserade bilder av ojämna exemplar och sömlösa panoramavyer av stora prover. Stöder sekundär utveckling för produktionslinje-integration, idealisk för ny-material-forskning och beläggning-tolerans-analys.
Trinokulär-synkron design möjliggör samtidig visning via kikare-okular och 4K-monitor. Lärare och QC-inspektörer kan observera samma mikroprov tillsammans, perfekt för universitetsutbildning och dubbelinspektion av defekter i fabriker.
Två lagringsalternativ: direkt USB-minne-lagring för 4K-foton/videor och PC-programvara-arkivering för mass-images-&-measurement-data. Infångade poster och dimensionsrapporter kan exporteras och lagras på lång sikt, möta spårbarhet-kraven på fabriks-QC, universitet-labb-rapporter och halvledare-inkommande-inspektion.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Enhet | Beskrivning |
| Produkt | GP-L200-462H 4K metallografiskt mikroskop med hög förstoring med autofokus |
| Kategori | Industriell trinokulär högförstoring 4K autofokus metallografisk inspektion och mätning Mikroskop |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront observationssystem, professionellt metallurgiskt objektiv-objektiv, 4K ultrahögupplöst CMOS-bildbehandling, autofokusmodul, flerkanalig signalöverföring, dubbla digitala mätmotor, stapling av skärpedjup och bildsömnadsalgoritm, stöd för öppet system sekundär utveckling |
| Nyckelspecifikationer | Visuell förstoring: 50/100/200/500 ×; Elektronisk förstoring: 200/400/800/2000 ×; Trippelutgång: HDMI + USB3.0 + WiFi; 4K-inspelningsupplösning 3840 × 2160; Autofokus design; Dubbla mätlägen: inbyggd on-device-measurement + professional-PC-software-measurement *(0,001 mm, mindre mättolerans kan uppnås under högre förstoring. Resultaten är föremål för kalibrering, förstoring och prov villkor)*; Dubbel lagring: USB-flash-enhet lokal lagring + dator-fil-lagring; Monitor-terminal stöder bild-förhandsgranskning, dimensionell-mätning, foto-&-video-insamling; PC-terminal stöder mätning och bildarkivering, kompatibel med sekundärutvecklingsintegration |
| Typiska applikationer | Metall-metallografisk-struktur-analys, legering-korn- och-material-textur-observation, beläggning-tjockleksmätning, halvledare-wafer-detektion, PCB-tvärsnittsinspektion, precisions-hårdvarufel-analys, universitet-laboratorie-material-forskning, ny-energi-material-kvalitet- testning |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tillverkarens plats | Kunshan, Jiangsu, Kina (nära Shanghai) |
| Produktmärke | GAOPIN |
| Produktmodell | GP-L200-462H |
| Upplösning | 3840 × 2160 (4K) |
| Effektiva pixlar | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetod | Autofokus |
| Sensor optiskt format | 1/1,8" |
| Pixelstorlek | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Utgångsgränssnitt | HDMI + USB3.0 + WiFi |
| Bildhastighet | HDMI: 60 fps @3840 × 2160 USB3.0: 30 fps @3840 × 2160 / 60 fps @1920 × 1080 WiFi: 30 fps @3840 × 2160 / 60 fps @1920 × 1080 |
| Mätoperation | Inbyggt mätsystem på monitorn + PC-mjukvarubaserad mätning |
| Mätnoggrannhet | 0,002-0,005 mm *(Mindre mättolerans kan uppnås vid högre förstoring. Resultat ämne till kalibrering, förstoring och provförhållanden)* |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4-vägs omkopplingsbar) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radie, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning, automatisk kantdetektering, skalningsfält |
| Förvaringsmetod | USB-minne + PC-mjukvara lagring |
| Läget för namngivning av bilder | Automatisk eller manuell namngivning av bildfiler |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz huvudkontrollprocessor |
| Firmware OS | Oberoende utvecklat mätsystem byggt på Linux 3.1 kärna |
| Observationshuvud | 30° lutande trinokulärt observationsrör, 360° roterbart, justerbart avstånd mellan pupillerna |
| Observationsmetod | Ljusfält / snett belysning / genomlyst belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekterat och transmitterat dubbelvägsbelysningssystem, 100-240 V bredspänning; justerbar glödtrådscentrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet |
| Stativ ram | Transmitterat och reflekterat stativ med dubbla ändamål; koaxiell grovfinfokusmekanism; grovjustering stroke 33 mm, finjusteringsnoggrannhet 0,002 mm med låsning & gränsstopp; halogenlampa belysning; Ljusfältsreflektor med variabel bländarstopp, fältstopp och färgfilterkonvertering; Utrustad med blått filter för observation av reflekterat ljus |
| Mobil plattform | Dubbellagers mekaniskt rörlig scen; scenstorlek: 140 × 132 mm; X-Y slaglängd: 76 × 50 mm; glas scen för överförd & reflekterad observation |
| Ljuskälla | 6V-30W halogenlampa för reflekterat ljus; 6V-30W halogenlampa för genomlyst ljus |
| Enkel polarisering | 30° polarisatorinsats (reflekterat ljus) + 360° roterbar analysatorinsats för polariserad observation |
| Elektroniskt gränssnitt | 0,5X C-monteringsgränssnitt, justerbar fokus [Valfritt: 1X C-fäste] |
| Okular | High-eye-point flat-field okular med stort fält PL10X/18 mm (ett okular med skalmärke) |
| Metallurgisk objektivlins | Långa arbetsavstånd akromatiska metallurgiska objektiv med platt fält: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optisk förstoring | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × fyra nivåer justerbar |
| Elektronisk förstoring | Ca. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × fyra nivåer justerbar (expanderbar till 400-4000 ×) |
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
NIO Shanghai – Precisionsinspektion för nya-energi-bildelar och ledningsnät
GREE Electric Appliances (Hefei) – Precisionsmått-mätning & defektinspektion för hushållsapparater-komponenter
Huawei Electronics – Inkommande-material-inspektion & produktionslinje-QC för elektroniska-komponenter
DOOV – Mobil-enhet-montering-inspektion, skärm- och komponent-utseende-testning
Linsteknik – Mikrofelsdetektering för glasskyddsplattor och telefonskyddspaneler
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisk komponenttestning och felanalys
Mål & okular:Torka av linserna försiktigt med linspapper och linsrengöringsmedel. Rör aldrig optik linser med bara händer eller använd vanliga pappershanddukar för rengöring.
Huvudkropp och scen:Rensa provskräp och metallurgiskt pulver omedelbart. Torka av höljet med en torr mjuk trasa; undvik vätskestänk. Kontrollera regelbundet att stegskruvarna är åtdragna för att förhindra växling orsakad av kollisioner.
Transmitterad och reflekterad ljuskälla:Stäng av ljuskällan när mikroskopet är inaktivt. Blås damma av ljusfönstret och rör inte vid glödlampan direkt.
Mekanisk fokusmekanism:Vrid inte fokushandratten med överdriven kraft. Fortsätt glida spår rena; smörj dem aldrig själv.
Lagringsmiljö:Förvara i ett torrt, välventilerat utrymme för att motstå fukt och mögel. Täck över enhet med dammskydd efter användning.
Programvara och kalibrering:Kalibrera mätskalan innan du utför mätningar. Helt nära tillhörande programvara innan strömmen bryts. Ta inte isär enheten utan tillstånd; kontakt eftermarknadsservice vid felfunktioner.
A1: Visuell förstoring: 50-500 ×; Elektronisk förstoring: 200-2000 ×. Synkron observation via okular och monitor är tillgänglig för rutin- och precisionsinspektion.
A2: Den stöder HDMI, USB3.0 och WiFi-utgång. Det kan fungera direkt med bildskärmar och datorer, eller uppnå trådlöst skärmprojektion via WiFi-anslutning.
A3: Den stöder 4K-fotografering, videoinspelning och högprecisionsmätning. Den matchade programvaran inser skärpedjup stapling och bildsömnad. Den stöder USB-flash-enhet och PC-lagring, rapportexport och sekundärutveckling. Lämplig för metallmetallografi, chips, fibrer, pulvermetallurgi, precisionselektronikinspektion, vetenskaplig forsknings- och undervisningsscenarier.
A4: Kontrollera strömförsörjningsstatus och HDMI-kabelanslutningar, bekräfta att bildskärmen har ställts in på rätt sätt signal-ingångskanal. Starta om mikroskopvärden. Om felet kvarstår, vänligen kontakta kundservice.
A5: Idealisk för metallografisk analys, chips, precisionselektronik, pulvermetallurgi och fibertestning. Lämplig för industri-kvalitetsinspektion, vetenskaplig-forskning och undervisningsarbete.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundat 2011 vars grundare har samlat på sig branschexpertis sedan dess 2005, är ett tekniskt fokuserat företag som specialiserat sig på design, FoU, försäljning och eftermarknadsservice för industriell mikroskop, inklusive metallografiskt mikroskop med hög förstoring med autofokus. Vårt kärnteknikteam ger över tio års specialiserad erfarenhet, vilket säkerställer mogen teknik och pålitlig kvalitet. Med mer än en hundra optiska produktmodeller och en global kundbas, GAOPIN levererar kontinuerligt skräddarsydda, kostnadseffektiva mikroskopi lösningar. Vi tillhandahåller snabb respons global teknisk support genom onlinekonferenser, videoassisterad vägledning, och distansträningspass. Vår tillverkningsbas ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen (nära Shanghai). Båda fabriksinspektioner på plats och virtuella anläggningsvisningar är tillgängliga för kunder. Välkommen att kontakta oss för provtestbilder tagna med detta GP-L200-462H 4K autofokus metallurgiska mikroskop för att utvärdera bildbehandling prestanda första hand.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
