Detta 4K Ultra HD metallurgiska mikroskop med hög förstoring är idealiskt för analys av materialdefekter och kvalitetsrevision, en konkurrenskraftig hög förstoring metallografiskt mikroskop med 4K Ultra HD. Dubbel visning via kikare okular och extern monitor tillåter bekväm teamrecension. Trådlös dataöverföring kan realiseras genom att ansluta en trådlös adapter till dess USB-port. Enhetlig koaxial belysning tillsammans med ljusfälts- och mörkfältslägen ger skarp synlighet för korn, beläggningar, sprickor och andra små skavanker. Inbyggda bildtagnings- och mätningsanalysfunktioner effektiviserar inspektionsarbetsflöden. Antivibrationschassi bibehåller konsekvent bildkvalitet; uppgraderingsvänlig modulär layout skärsår framtida hårdvaruinvesteringar.
4K-kamera integrerad med trinokulär metallurgisk ram, stöder samtidig okular- och skärmvisning. Dubbla utgång från HDMI + Gigabit-LAN-port för att fånga ultra-HD mikrobilder i realtid.
Optisk förstoring 50-500 ×, maximal digital förstoring 2000 ×. Precision optisk väg med professionell metallurgiska objektiv ger skarp avbildning av mikrometallstrukturer.
Integrerad grov- och finfokuseringsenhet säkerställer jämn och stabil fokusering, vilket kraftigt minskar bildvibrationer under observation.
Bas i ett stycke av gjuten aluminium håller enheten välbalanserad, fri från vingling eller skiftning under långvarig skivinspektion och materialobservationsarbete.
Klassisk vit-blå kropp i researchstil med standard trinokulär metallurgisk layout, ren och minimalistisk för laboratorier och kvalitetskontrollverkstäder.
Lämplig för metall-metallografisk analys, halvledar-wafer-inspektion, material-fel-analys, universitet-undervisning-forskning och komponent-kvalitet-testning uppgifter.
4K (3840 × 2160) foto- och videoinspelning. Inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvarubaserad mätning är tillgänglig; dubbel lagring via USB-minne och dator. Sekundär-utveckling stöds för bekväm bildarkivering, jämförelse och djupgående dataanalys.
Kikare och synkron elektronisk observation:Synkroniserad visning mellan okular och övervaka. Vanliga metallurgiska mikroskop stöder endast visning av okularet; extra kameratillbehör behövs för skärmutgång.
4K ultrahögupplöst bildbehandling:3840 × 2160 4K-upplösning för återgivning med fin mikrostruktur. Vanliga metallurgiska kameror är mestadels 1080P med begränsad skärpa.
Dubbla utgångsgränssnitt:HDMI + Gigabit-LAN-port. Vanligtvis endast traditionella metallurgiska apparater anslut till PC utan nätverksport för enhetsintegration.
Dubbla mätningslägen:Offline inbyggd mätning på monitor plus PC-mjukvarubaserad mätning. Vanliga metallurgiska mikroskop stödjer endast mätning på PC-sidan utan hårdvaruinbäddad mätfunktion.
Dubbla lagringslägen:Offline USB-flash-enhet lagring och PC-programvara lagring; tillgänglig databesparing med eller utan dator. Konventionella modeller kräver PC för att spara bilder.
Sekundär utveckling som stöds:Gigabit-LAN-port möjliggör systemintegration för automation-produktionslinje-distribution. Allmänna metallurgiska mikroskop stöder inte sekundär utveckling integration.
Dedikerad metallurgisk optisk väg:Optimerad för analys av metall, beläggning och kornstruktur. Vanliga digitala mikroskop saknar dedikerad metallurgisk optisk väg och kan inte observera metallurgisk mikrostrukturer.
Utrustad med en inbyggd 4K (3840 × 2160) industrikamera och professionellt kalibrerad med standard metallurgiska testexemplar, producerar systemet ultratydliga, jämnt fokuserade bilder. Den återställer exakt intrikat mikrostrukturer inklusive korngränser, skiktade beläggningar och mikrosprickor med konsekvent skärpa från centrum till kant.
Konfigurerad med flera akromatiska metallurgiska mål för mikroanalys med hög förstoring. Den dubbla utsikten trinokulär design stöder synkron okularvisning och digital bildskärm, perfekt passande industri scenarier som metall-material-identifiering, beläggning-tjocklek-inspektion och spannmålskvalitet-gradering.
Inbyggd professionell mätalgoritm möjliggör dataöverlagring på skärmen och hög precision metallurgisk-mätning. Den täcker flera nyckelindikatorer inklusive beläggningstjocklek, kornlängd, sprickbredd och avstånd mellan skikten, medan stöder realtidskommentarer, bildarkivering och testdataexport. Kompatibel med skärpedjup stapling och funktioner för sammanfogning av bilder.
Dubbelvägs transmitterad och reflekterad belysning garanterar kvalificerad belysning för olika provtyper. Den Flyttbart högprecisionsbord säkerställer flexibel och exakt fältpositionering. Effektivt förstärkt helmetallkropp eliminerar vibrationer och ger stabil prestanda för långvarig batch-material-detektion.
Halvledare och elektroniska komponenter:IC-chips, kiselskivor, fotolitografiskivor, PCB brädor, FPC flexibla skivor, lödfogar, stift. Inspektionsmål: Observera interna chipkretsar, wafer beläggningar, kalllöddefekter, oxidation, kretsrepor och stiftdeformation; analysera mikroskivstrukturer under max 2000 × förstoring.
Metallmaterial och metallografiska prover:Metallografiska skivor, hårdvara av stämplad metall. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstrukturanalys, värmebehandling-material-identifiering; upptäcka kantflisning, mikrosprickor, grader och nötningsdjup.
LED optoelektroniska och plastgjutna delar:LED-chips, optiska plastdelar, injektion & stansning produkter. Inspektionsmål: Inspektera små skåror, ytfläckar, ojämna kanter, mikrofrämmande partiklar, lim-delaminering och tätning av mikrodefekter.
Högprecisions miniatyrkomponenter:Kontaktdon, terminaler, mikrofjädrar, små stansade arbetsstycken. Inspektionsmål: Observera små luckor och krimpplanhet; utföra exakt längdmätning på pixelnivå, håldiameter och stigning.
Laboratorie- och industriell QC-arkivering:Metallografisk-skiva-experiment-analys, inkommande-&-färdiga-varor provtagning-inspektion; foto-&-video-arkivering för defekta bevisposter och export av QC-rapporter för formella mätningar.
Optisk förstoring sträcker sig 50 ×-500 ×, max digital förstoring upp till 2000 ×, med inbyggt 3840 × 2160 4K upplösning. Den visar tydligt metallografiska texturer, spånbeläggningar och små korn, idealisk för mikroanalys av metall-metallografiska-strukturer, wafers, beläggningar och pulver-material för material-laboratorier och halvledare-inkommande- inspektion.
Trinokulär optisk väg möjliggör samtidig visning via kikare okular och monitor. Flera operatörer kan kontrollera mikroprov tillsammans, perfekt för universitetsutbildning och dubbelkontroll av defekter i fabriker.
Utrustad med HDMI + Gigabit-LAN-portar. HDMI ansluter bildskärm för visning på plats; LAN-port stöder lokalt nätverk åtkomst för fjärrbildåtkomst och multistationssynkron övervakning, förverkligande av centraliserad utrustningshantering för storskaliga labb.
Två-mätningslösningar: inbyggd mätning på monitorn och PC-mjukvarubaserad mätning. Två lagringsvägar: USB flash-enhetslagring och datorarkivering. Uppmätta data och 4K-bilder kan exporteras för QC-rapporter och enhet stöder sekundärutveckling för produktionslinjeintegration.
Standard metallurgisk scen med flera objektivlinser passar metallprover, wafers, beläggningsskivor och mikro-elektroniska delar. Precisionskoaxial grov- och fin manuell fokusering med stabil kropp, allmänt använd i undervisningen, inkommande-besiktning och ny-material-forskning.
Neutral förpackningsförsändelse är tillgänglig på begäran.
| Enhet | Beskrivning |
| Produkt | GP-L200-324K 4K metallografiskt mikroskop med hög förstoring med 4K Ultra HD |
| Kategori | Industriellt trinokulärt 4K metallografisk inspektions- och mätmikroskop med hög förstoring |
| Kärnteknologier | Trinokulärt synkront observationsoptiskt system, professionell metallurgisk objektivlinsgrupp, 4K ultrahögupplöst CMOS-bildbehandling, dubbeldigital mätmotor (på skärmen och PC-programvara), HDMI + Gigabit-LAN dubbelsignalöverföring, dubbellagringsteknik, stöd för öppet system sekundär utveckling |
| Nyckelspecifikationer | Visuell förstoring: 50/100/200/500 ×; Elektronisk förstoring: 200/400/800/2000 ×; Dubbel utgång: HDMI + Gigabit-LAN; 4K-inspelningsupplösning 3840 × 2160; Manuell fokusering; Dubbla mätlägen: inbyggd mätning på enheten + mätning av professionell PC-programvara *(0,001 mm, mindre mättolerans kan uppnås under högre förstoring. Resultaten är föremål för kalibrering, förstoring och prov villkor)*; Dubbel lagring: USB-flash-enhet lokal lagring + dator-fil-lagring; Monitor-terminal stöder bildförhandsgranskning, dimensionsmätning, fotoinsamling och filspara; PC-terminal stöder mätning och bildarkivering, kompatibel med sekundärutvecklingsintegration |
| Typiska applikationer | Metall-metallografisk-struktur-analys, legering-korn- och-material-textur-observation, beläggning-tjockleksmätning, halvledare-wafer-detektion, PCB-tvärsnittsinspektion, precisions-hårdvarufel-analys, universitet-laboratorie-material-forskning, ny-energi-material-kvalitet- testning |
| Tillverkare | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tillverkarens plats | Kunshan, Jiangsu, Kina (nära Shanghai) |
| Produktmärke | GAOPIN |
| Produktmodell | GP-L200-324K |
| Upplösning | 3840 × 2160 (4K) |
| Effektiva pixlar | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetod | Manuell fokusering (koaxiell grov- och finjustering) |
| Sensor optiskt format | 1/1,7" |
| Pixelstorlek | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Utgångsgränssnitt | HDMI + Gigabit-LAN |
| Bildhastighet | HDMI: 60 fps @3840 × 2160 LAN-port: 20 fps @1920 × 1080 |
| Mätoperation | Inbyggt mätsystem på monitorn + PC-mjukvarubaserad mätning |
| Mätnoggrannhet | 0,001 mm *(Mindre mättolerans kan uppnås vid högre förstoring. Resultat med förbehåll för kalibrering, förstoring och provförhållanden)* |
| Måttenheter | mm / μm / mil / tum (4-vägs omkopplingsbar) |
| Mätverktyg | Längd, vinkel, radie, cirkel, polygon, polylinje, centrum-till-centrum-avstånd, rektangel, anteckning, automatisk kantdetektering, skalningsfält |
| Förvaringsmetod | USB-minne + PC-mjukvara lagring |
| Läget för namngivning av bilder | Automatisk eller manuell namngivning av bildfiler |
| Visningsspråk | Förenklad kinesiska / engelska (växlingsbar) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz huvudkontrollprocessor |
| Firmware OS | Oberoende utvecklat mätsystem byggt på Linux 3.1 kärna |
| Observationshuvud | 30° lutande trinokulärt observationsrör, 360° roterbart, justerbart avstånd mellan pupillerna |
| Observationsmetod | Ljusfält / snett belysning / genomlyst belysning / enkel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekterat och transmitterat dubbelvägsbelysningssystem, 100-240 V bredspänning; justerbar glödtrådscentrum, kontinuerligt justerbar ljusintensitet |
| Stativ ram | Transmitterat och reflekterat stativ med dubbla ändamål; koaxiell grovfinfokusmekanism; grovjustering stroke 33 mm, finjusteringsnoggrannhet 0,002 mm med låsning & gränsstopp; halogenlampa belysning; Ljusfältsreflektor med variabel bländarstopp, fältstopp och färgfilterkonvertering; Utrustad med blått filter för observation av reflekterat ljus |
| Mobil plattform | Dubbellagers mekaniskt rörlig scen; scenstorlek: 140 × 132 mm; X-Y slaglängd: 76 × 50 mm; glas scen för överförd & reflekterad observation |
| Ljuskälla | 6V-30W halogenlampa för reflekterat ljus; 6V-30W halogenlampa för genomlyst ljus |
| Enkel polarisering | 30° polarisatorinsats (reflekterat ljus) + 360° roterbar analysatorinsats för polariserad observation |
| Elektroniskt gränssnitt | 0,5X C-monteringsgränssnitt, justerbar fokus [Valfritt: 1X C-fäste] |
| Okular | High-eye-point flat-field okular med stort fält PL10X/18 mm (ett okular med skalmärke) |
| Metallurgisk objektivlins | Långa arbetsavstånd akromatiska metallurgiska objektiv med platt fält: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optisk förstoring | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × fyra nivåer justerbar |
| Elektronisk förstoring | Ca. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × fyra nivåer justerbar (expanderbar till 400-4000 ×) |
GAOPIN-mikroskop används av ledande företag, forskningsinstitut och universitet. Vårt samarbete relationer inkluderar:
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensionell och mikrodetektering för precisionsbearbetning delar
Forskningsinstitutet för fysikalisk och kemiteknik för kärnkraftsindustrin – mikromorfologi-observation & precisions-komponentanalys av specialmaterial
DOOV – Mobil-enhet-montering-inspektion, skärm- och komponent-utseende-testning
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & optisk-komponent-karakterisering
Tsinghua University – Undervisning, laboratorieavbildning och experimentell dataarkivering
Beijing Institute of Technology – Vetenskaplig-forskning-analys för militär-grade-material och optoelektroniska enheter
Mål & okular:Torka av linserna försiktigt med linspapper och linsrengöringsmedel. Rör aldrig optik linser med bara händer eller använd vanliga pappershanddukar för rengöring.
Huvudkropp och scen:Rensa provskräp och metallurgiskt pulver omedelbart. Torka av höljet med en torr mjuk trasa; undvik vätskestänk. Kontrollera regelbundet att stegskruvarna är åtdragna för att förhindra växling orsakad av kollisioner.
Transmitterad och reflekterad ljuskälla:Stäng av ljuskällan när mikroskopet är inaktivt. Blås damma av ljusfönstret och rör inte vid glödlampan direkt.
Mekanisk fokusmekanism:Vrid inte fokushandratten med överdriven kraft. Fortsätt glida spår rena; smörj dem aldrig själv.
Lagringsmiljö:Förvara i ett torrt, välventilerat utrymme för att motstå fukt och mögel. Täck över enhet med dammskydd efter användning.
A1: Den erbjuder 50-500 × visuell förstoring och 200-2000 × elektronisk förstoring. Okular och monitor Synchronous-observation är tillgänglig för rutin- och precisionsinspektion.
A2: Den stöder HDMI-videoutgång och Gigabit-LAN-portanslutning. Den kan arbeta självständigt med en bildskärm eller ansluta till a PC via LAN för bildöverföring och mjukvarukontroll.
A3: Den stöder 4K-fotografering, videoinspelning och högprecisionsmätning. Den matchade programvaran inser skärpedjup stapling och bildsömnad. Den stöder USB-flash-enhet och PC-lagring, rapportexport och sekundärutveckling.
A4: Suddiga bilder orsakas av ojämna prover, hög förstoring, dammiga linser eller felaktig fokus. Platta ut prover, minska förstoring, rengör linsen och justera fokus för tydlig bild.
A5: Ingen HDMI-bild: Kontrollera strömförsörjning, kabelanslutning och bildskärmssignalkälla, starta sedan om enheten. LAN-anslutning- fel: Håll PC och enhet i samma nätverkssegment, stäng av brandväggen och verifiera IP-inställningarna.
A6: Idealisk för metallografisk analys, chips, precisionselektronik, pulvermetallurgi och fibertestning. Lämplig för industriell-kvalitetsinspektion, vetenskaplig-forskning och undervisning.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundat 2011 vars grundare har samlat på sig branschexpertis sedan dess 2005, är ett tekniskt fokuserat företag som specialiserat sig på design, FoU, försäljning och eftermarknadsservice för industriell mikroskop. Vårt kärnteknikteam har över tio års specialiserad erfarenhet, vilket säkerställer mogen teknologi och pålitlig kvalitet. Med mer än hundra optiska produktmodeller och en global kundbas, GAOPIN kontinuerligt levererar skräddarsydda, kostnadseffektiva mikroskopilösningar. Vi tillhandahåller snabbt svar global teknisk support genom onlinekonferenser, videoassisterad vägledning och distansutbildningar. Vår tillverkningsbas finns i Kunshan, Jiangsu-provinsen (nära Shanghai). Både fabriksinspektioner på plats och virtuella anläggningsvisningar är tillgängliga för kunder. Välkommen att kontakta oss för exempel på testbilder tagna med denna GP-L200-324K 4K hög förstoring metallografiskt mikroskop med 4K Ultra HD för att utvärdera bildprestanda i första hand.
Adress
Byggnad 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tel
E-post
